专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种厚膜电阻生产的电阻值测试-CN202223089141.4有效
  • 叶云强;罗鑫荣 - 福建美信达电子科技有限公司
  • 2022-11-17 - 2023-05-09 - G01R27/02
  • 本实用新型涉及一种厚膜电阻生产的电阻值测试,包括测试本体,所述测试本体一侧固定连接有滑轨,所述测试本体通过所述滑轨滑动安装有测试针,所述测试针设有多个,多个所述测试针分别滑动安装在所述测试本体的滑轨外部,所述测试本体通过线缆电连接所述测试针。本实用新型通过测试本体一侧固定连接有滑轨,测试本体通过滑轨滑动安装有测试针,测试针设有多个,多个测试针分别滑动安装在测试本体的滑轨外部,测试本体通过线缆电连接测试针,使得使用者可以根据厚膜电阻生产的电阻的针脚之间的间距调整测试针之间间距与之匹配进行电阻测试操作,使得本实用新型可以针对等多种规格横向针脚的厚膜电阻进行测试操作。
  • 一种电阻生产阻值测试
  • [实用新型]一种多功能光电参数测试-CN202122691311.5有效
  • 高炬 - 成都工贸职业技术学院
  • 2021-11-05 - 2021-12-07 - G01R1/02
  • 本实用新型公开了一种多功能光电参数测试,包括光电测试本体,光电测试本体上设有操作面板、操作按钮和测试插接口,所述光电测试本体的下方设有测试底壳,光电测试本体的上方设有测试上护壳,所述测试上护壳与测试底壳之间安装有四个缓冲装置,该多功能光电参数测试,光电测试本体受到碰触时,测试上护壳能够有效阻挡上部受到的碰触,受到碰触后将会产生震动,将会带动四个缓冲杆分别在四个缓冲槽内移动,并分别压缩四个缓冲弹簧,在四个缓冲弹簧的弹力作用,能够有效减缓受到的冲击,从而能够很好的保护光电测试本体不易受到碰触损坏,同时设置的测试上护壳能够有效阻挡灰尘。
  • 一种多功能光电参数测试
  • [实用新型]一种高效四线式毫阻测试-CN202123127273.7有效
  • 李亚军;侯胜杰 - 赋桦科技(深圳)有限公司
  • 2021-12-13 - 2022-06-07 - H05K7/20
  • 本实用新型提供一种高效四线式毫阻测试;包括测试本体测试本体的一侧外壁通过螺栓连接有离心风机,测试本体的一侧外壁内嵌有温度传感器,测试本体的一侧外壁设置有控制一体机,离心风机和温度传感器分别通过导线与控制一体机,测试本体的一侧外壁通过螺栓连接有壳体。本设计利用温度传感器对测试本体内部的温度进行检测,当测试本体在工作过程中内部的热量过高时,使得控制一体机通过温度传感器反馈的电信号控制离心风机进行工作,进而将测试本体内部的热空气进行排出,因此实现了测试本体散热高效且智能的效果,使得四线式毫阻测试不用停机,进而使得四线式毫阻测试的工作更加的高效。
  • 一种高效四线式毫阻测试
  • [实用新型]一种高低压测试-CN202222161010.6有效
  • 李永俊;时莉;王雪玲;杨万鹏;孙声毅 - 烟台溧渡金属制品有限公司
  • 2022-08-17 - 2023-01-10 - G01M99/00
  • 本实用新型公开了一种高低压测试,包括压力测试本体,所述压力测试本体上设有与其内部连通的第一进气管,所述压力测试本体上设有用于烘干压力测试本体内部湿气的烘干机构,所述烘干机构包括固定连接在压力测试本体上端的加热箱,所述加热箱内设有两个电加热丝,所述第一进气管远离压力测试本体的一端与加热箱内部连通,所述压力测试本体上端固定连接有微型气泵,所述微型气泵出气端通过连通管与加热箱内部连。本实用新型设置了烘干机构,通过热空气送入压力测试本体内部以达到除去水分的目的,装置结构简单,从而降低了压力测试本体生产难度,并且水分除去快速彻底,进而提高了装置的实用性。
  • 一种低压测试
  • [实用新型]一种电子元器件耐高温用测试-CN202022468041.7有效
  • 蒋中能;李龙;徐小飞 - 成都方昇科技有限公司
  • 2020-10-30 - 2021-07-16 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了一种电子元器件耐高温用测试箱,所述测试本体顶部固定安装有固定架,所述固定架内部固定安装有风扇,所述测试本体顶部位于风扇处固定安装有防护网,所述测试本体表面一侧固定安装有第一防尘网,所述测试本体表面另一侧固定安装有第二防尘网,所述测试本体内壁固定安装有立柱,所述立柱顶部固定安装有支撑板,所述支撑板表面涂覆有散热硅胶,该装置安装有风扇,能够将测试本体内部的热空气抽出,而且该装置安装有散热硅胶,能够在电子元器件本体工作的过程中对其进行散热,测试本体内壁还安装有隔热薄膜,能够在一定程度上隔绝进入测试本体内部的热量。
  • 一种电子元器件耐高温测试机箱
  • [实用新型]一种免人工的自动上料塑料颗粒拉伸机-CN202122961965.5有效
  • 陈树;李燕 - 天津蔚之蓝科技有限公司
  • 2021-11-26 - 2022-05-03 - G01N3/08
  • 该免人工的自动上料塑料颗粒拉伸机,包括拉伸测试本体和上料组件。在上述实现过程中,使塑料颗粒处于合适的高度,然后通过第一电动滑台带动第二电动滑台向拉伸测试本体进行移动,进而带动第一夹板、第二夹板和塑料颗粒向拉伸测试本体进行移动,进而便可带动塑料颗粒进入拉伸测试本体内部,进而便可使塑料颗粒停留在拉伸测试本体内部,然后工人便可双手对拉伸测试本体进行操作,使拉伸测试本体对塑料颗粒进行拉伸测试,进而使得拉伸测试本体的操作较为简单方便。
  • 一种人工自动塑料颗粒拉伸
  • [实用新型]一种用于测试32位MCU测试系统的测试-CN202121602317.4有效
  • 徐四九 - 嘉兴威伏半导体有限公司
  • 2021-07-14 - 2021-12-28 - G01R35/00
  • 本实用新型提供了一种用于测试32位MCU测试系统的测试,属于晶圆生产设备技术领域,包括测试本体,在所述测试本体的下表面的四个角上均固定连接有一L型板,所述L型板的一端与测试本体侧壁固定连接,在所述L型板外壁上开设有一滑槽,所述滑槽呈L型设置,在滑槽中滑动连接有一滑板,在滑板上固定连接有一万向轮,在所述测试本体下表面的两端上均设有一用于将测试本体支撑起来的支撑机构,本实用新型具有方便操作者移动测试优点
  • 一种用于测试32mcu系统
  • [实用新型]一种钢化玻璃抗弯测试装置-CN202020171043.7有效
  • 黄保勇 - 黄保勇
  • 2020-02-15 - 2020-11-20 - G01N3/00
  • 本实用新型公开了一种钢化玻璃抗弯测试装置,其结构包括测试本体、除尘设备、支撑腿、操作平台、第一内隔音板、第二内隔音板、外隔音罩和控制面板,所述测试本体的内侧底部设有操作平台,所述测试本体的内部两侧粘接分布有吸音棉,所述测试本体的左侧设有除尘设备,所述除尘设备的左部设有吸风风扇,所述吸风风扇的左部连接有电机,所述测试本体的右侧设有控制面板,所述测试本体的内侧顶部设有第一内隔音板,所述第一内隔音板的顶部设有第二内隔音板,所述测试本体的外侧顶部设有外隔音罩,所述测试本体的底部焊接分布有支撑腿。该一种钢化玻璃抗弯测试装置,有效的吸收阻隔了主要噪声源,降低噪音污染,使得灰尘收纳清理。
  • 一种钢化玻璃测试装置
  • [实用新型]一种疲劳测试安装座的连接结构-CN201720122342.X有效
  • 张文珂 - 郑州云海信息技术有限公司
  • 2017-02-10 - 2017-10-27 - G01D11/16
  • 本实用新型公开了一种疲劳测试安装座的连接结构,包括测试本体、安装座和控制器本体,安装座安装在测试本体上,控制器本体安装在安装座上,在测试本体上设有安装座,控制器本体安装在安装座上,安装座通过紧固螺母固定在测试本体上,且安装座通过多组缓冲结构连接测试本体,使得安装座的连接稳固,并且提高了控制器本体的抗震性和稳定性,安装座通过安装卡块卡接控制器本体,再通过转动把手操纵控制器本体的安装,使得控制器本体便于拆卸,便于维修更换
  • 一种疲劳测试安装连接结构
  • [发明专利]潜液电机测试装置-CN201811653798.4有效
  • 艾程柳;黄元峰;王海峰;马鹏飞;赵威;杨阳 - 中国科学院电工研究所
  • 2018-12-29 - 2020-09-29 - G01R31/34
  • 本发明涉及测试装置技术领域,具体涉及一种潜液电机测试装置。包括桶本体、电机、室内测试构和室外测试构,桶本体其内具有盛装液体的容纳腔;电机安装在所述桶本体的容纳腔内;室内测试构安装在所述容纳腔内,与所述电机连接;室外测试构安装在所述桶本体外侧,与所述室内测试构感应连接,所述室内测试结构和所述室外测试构共同对所述电机进行测试。本发明的潜液电机测试装置适用于在低温液体中测试电机性能,具有节约资源,测试更加安全的优点。
  • 电机测试装置
  • [实用新型]一种半导体测试校准装置-CN202221827517.4有效
  • 杨斌;黄峰荣;何亮;曾绍娟 - 遂宁合芯半导体有限公司
  • 2022-07-15 - 2022-11-15 - G01R35/00
  • 本实用新型提供一种半导体测试校准装置。所述半导体测试校准装置包括半导体测试本体;挡板,所述挡板固定安装在所述半导体测试本体的顶部;两个T型槽,两个所述T型槽均开设在所述半导体测试本体的顶部;两个滑动杆,两个所述滑动杆分别固定安装在两个所述T型槽的内壁上;两个限位块,两个所述限位块均固定安装在所述半导体测试本体的顶部;两个第一校准机构,两个所述第一校准机构均设置在所述半导体测试本体的顶部;两个拉开机构,两个所述拉开机构均设置在所述半导体测试本体的顶部本实用新型提供的半导体测试校准装置具有操作较为方便、校准效果较好、能够避免测试品发生位置偏移的优点。
  • 一种半导体测试校准装置
  • [实用新型]一种插头综合测试-CN201520493492.2有效
  • 何维;杨百玺;陈玉成;杨秀民;柳云朝 - 台州携康电子有限公司
  • 2015-07-07 - 2015-11-18 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了一种插头综合测试,属于测试设备技术领域,旨在提供一种在测试过程中保护电源插头不被夹坏的插头综合测试,其技术方案如下,一种插头综合测试,包括测试本体,所述测试本体上设置有显示屏、操作开关,所述测试本体上设置测试构,所述测试构包括两个支撑座,两个支撑座相背离的一面均固定连接有水平气缸,所述水平气缸的活塞杆穿过支撑座连接有夹持板,所述测试本体上设置有插座,所述插座设置在两个给夹持板之间
  • 一种插头综合测试

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