“检查光”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1108076个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]异物检查装置、曝光装置以及物品制造方法-CN201910873185.X在审
发明人：前田浩平 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2019-09-17 - 公布日： 2020-03-31 - 主分类号： G03F1/84 文献下载
摘要：提供一种相对于检查对象物的平坦度的下降而言稳定的异物检查装置、曝光装置以及物品制造方法。检查物体的被检查面上的异物的异物检查装置具有：投光部，向所述被检查面投射检查光；以及受光部，接受由于通过所述投光部投射所述检查光而产生的来自所述异物的散射光，所述异物检查装置以所述投光部的光轴与所述受光部的光轴相交的点位于从所述被检查面可取的高度范围偏移的位置的方式配置了所述投光部和所述受光部
异物检查装置曝光以及物品制造方法

[发明专利]图像检查装置以及图像形成装置-CN202010500687.0在审
发明人：山村晃 -专利权人：柯尼卡美能达株式会社
申请日： 2020-06-04 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： H04N1/028 文献下载
摘要：提供在尺寸上能够搭载于图像形成装置中且能够计测纸张整面的光泽分布的图像检查装置。一种图像检查装置，具备：照明部，向检查对象照射光；读取部，对被检查对象反射的光进行检测的元件排列成一维以上，读取检查对象的整个宽度；以及控制部，基于读取部的读取结果对检查对象的特性进行检查，其中，在被检查对象正反射的光所通过的位置具有导光构件，导光构件被配置为，经由导光构件而入射至读取部的光的光路与不经由导光构件而入射至读取部的光的光路平行，控制部基于经由导光构件而入射至读取部的光的读取结果而对检查对象的光泽分布进行检查，基于不经由导光构件而入射至读取部的光的读取结果而对检查对象的浓度分布进行检查
图像检查装置以及形成

[实用新型]掩膜板检查组件及曝光机-CN201820003651.X有效
发明人：马行空;王志强;郭光龙;王辉;吴彬;孙强 -专利权人：合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2018-01-02 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： G03F1/84 文献下载
摘要：本实用新型公开一种掩膜板检查组件及曝光机，属于曝光技术领域。掩膜板检查组件包括：控制件和m对检查件，m为正整数；m对检查件设置于掩膜板的待检查板面所在侧，每对检查件包括光发射器和光接收器，每对检查件的光发射器与每对检查件的光接收器相对设置，且每对检查件的光发射器和光接收器分别与控制件电连接；控制件用于控制目标检查件的光发射器发射光线，根据目标检查件的光接收器是否接收到目标检查件的光发射器发射的光线，来检查掩膜板的待检查板面上是否存在异物，目标检查件为m对检查件中的任一检查件。本实用新型有助于解决掩膜板的检查效率较低的问题，有助于提高掩膜板的检查效率。本实用新型用于掩膜板检查。
检查件掩膜板光发射器光接收器本实用新型检查组件目标检查控制件检查板曝光机检查发射光线控制目标曝光技术相对设置电连接正整数异物发射

[发明专利]一种基于升降旋转式的X光检查设备-CN202210247021.8在审
发明人：郑唯理;郑瑞松;骆浩;甘平生;朱伟 -专利权人：安徽美时影像技术有限公司
申请日： 2022-03-14 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于升降旋转式的X光检查设备，涉及医疗检测设备技术领域。本发明包括X光检查装置、扫描架、扫描架支撑座、连接电线、操作面板、成像显示器、主控制器、X光检查装置固定座，X光检查装置前侧装设有扫描架，X光检查装置通过连接电线与主控制器电连接，X光检查装置固定座的顶部对称设置有一对X光检查装置升降旋转机构，X光检查装置活动设置在一对X光检查装置升降旋转机构之间。在X光检查过程中，由于患者的特殊情况需要站立或者坐卧进行检测，患者平躺与站立坐卧时的存在高度差异，对X光检查装置进行上下移动和旋转，根据患者的特殊情况，满足不同的检测需求，提高检测效率。
一种基于升降旋转检查设备

[发明专利]纳米突起构造体检查装置以及纳米突起构造体检查方法-CN202210099537.2在审
发明人：佐藤友纪;土屋诏一;浅井正孝;浅野刚史;内村将大;立山望美 -专利权人：泰星能源解决方案有限公司;丰田自动车株式会社
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明涉及纳米突起构造体检查装置以及纳米突起构造体检查方法。这里公开的纳米突起构造体检查装置具备检查光照射部和色彩亮度计。检查光照射部向金属的表面亦即被检查面照射检查光。色彩亮度计的拍摄元件的拍摄光轴相对于因被检查面引起的检查光的镜面反射方向倾斜配置。色彩亮度计通过利用拍摄元件接受包括镜面反射光以及漫反射光的来自被检查面的检查光的反射光中的漫反射光来检查被检查面中的纳米级的突起构造体。
纳米突起构造体检装置以及方法

[发明专利]异物检查基板、基板处理装置以及基板处理方法-CN202180041508.4在审
发明人：小杉仁 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2021-06-07 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G01N21/85 文献下载
摘要：异物检查基板具备检查基板、照射器以及受光器。在所述检查基板贯通形成有供处理液通过的通过部。所述照射器用于对所述处理液照射检查光。所述受光器接受由于所述处理液中的异物在所述检查光中通过而产生的散射光、或者由于所述处理液中的异物在所述检查光中通过而衰减的透射光。所述受光器包括用于将接受到的所述散射光或所述透射光转换为电信号的光电转换元件。所述照射器和所述受光器设置于所述检查基板。
异物检查处理装置以及方法

[发明专利]断层摄影检查装置以及方法-CN202010532876.6在审
发明人：金珉洙 -专利权人：株式会社湖碧驰
申请日： 2020-06-12 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明公开一种能无损的检查检查对象的表面及内部的断层摄影检查装置及方法。所述断层摄影检查装置，包括：光源，其产生向检查对象的内部照射的测量光；分束器，其将所述测量光分割为参考光和测量光，将参考光照射至参考镜，并将测量光照射至检查对象，使在参考镜反射的参考反射光和在检查对象散射以及反射的信号反射光重叠来产生干涉光；扫描部，其将在所述分束器分割的测量光引导至检查对象的检查位置；散射滤波器，其安装于在检查对象反射的反射光的路径上，使在检查对象反射的反射光散射，使引导至分束器的信号反射光的强度增加；以及光电检测器，其检测所述干涉光，以获得检查对象的内部影像信号。
断层摄影检查装置以及方法

[发明专利]太阳能电池的检查装置-CN202110212873.9在审
发明人：堀井良吾 -专利权人：三星钻石工业股份有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供一种能够容易地实施与分割槽有关的缺陷的检查的检查装置。检查装置(100)具备检测部(200)，该检测部(200)检测与形成于被检查物的分割槽有关的缺陷。检测部(200)包括：投光部(310)，其向被检查物投射检查光；以及受光元件(410)，其接收透过被检查物的检查光。
太阳能电池检查装置

[实用新型]光检查装置-CN201720114340.6有效
发明人：近藤雅;广濑修;中谷诚;铃木亮民;樽本祥宪 -专利权人：株式会社石田
申请日： 2017-02-07 - 公布日： 2017-09-22 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本实用新型提供了能够高精度地发现被检查物中包含的异物的光检查装置。本实用新型的光检查装置包括输送部，输送被检查物；激发光照射部，在检查区域，向被检查物照射用于使异物产生荧光的激发光；光检测部，在检查区域检测荧光；以及处理部，根据从光检测部输出的信号，生成被检查物的图像，在输送部设置有箱体，该箱体从外部的光遮蔽检查区域。
检查装置

[发明专利]检查方法、光学膜检查装置以及光学部件的制造方法-CN202011367507.2在审
发明人：川上武志 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：提供用于高效且可靠地检查光学膜的技术。一个实施方式涉及的检查方法具备：在光学膜的检查区域照射检查光的照射工序；检测作为由检查区域反射的检查光的反射光的检测工序；和基于反射光的检测结果，判定光学膜的异常的有无的判定工序，检查光具有明部和暗部交替地配置的条纹图案
检查方法光学装置以及部件制造

[发明专利]检查装置及检查方法-CN201210579419.8无效
发明人：林义典;井筒纪;若叶博之;小野洋子;关胜利;权藤隆德;泷泽明彦 -专利权人：芝浦机械电子装置股份有限公司
申请日： 2012-12-27 - 公布日： 2013-07-03 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种检查装置及检查方法。即使是在达到目标光量所需时间较长的照明装置的照明光量达到目标光量之前开始检查，也能够进行精度优于过去的检查。检查装置对利用图像数据表示的被检查体的图像进行检查处理，该图像数据是通过拍摄被照明装置照明的被检查体而得到的，该检查装置构成为具有确定用于检查处理的处理信息的处理信息确定单元（S26、S29），该处理信息随着在照明装置的设定光量被从初始光量切换为目标光量时、来自照明装置的照明光量从初始光量到目标光量的时间性变化而变化，检查装置使用由处理信息确定单元根据从照明装置的设定光量被切换为目标光量时起的经过时间确定的处理信息进行检查处理（S27）。
检查装置方法

[发明专利]一种基于智能化控制的X光检查设备-CN202210514932.2在审
发明人：郑唯理;郑瑞松;骆浩;甘平生;朱伟 -专利权人：安徽美时影像技术有限公司
申请日： 2022-05-11 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于智能化控制的X光检查设备，涉及医疗检测设备技术领域。本发明包括X光检查装置、X光检查装置固定座、扫描架、连接电线、主控制器、操作面板、成像显示器、升降移动支撑机构，X光检查装置前侧装设有扫描架，扫描架与X光检查装置活动连接，X光检查装置通过连接电线与主控制器电连接患者平躺或坐卧于扫描架上，主控制器启动电机，使扫描架上升且扫描架上的患者移动至X光检查装置内，然后通过主控制器上的操作面板控制X光检查装置进行检查，通过设置升降移动支撑机构，能够实现对扫描架快速升降，方便调节检测高度，还能够使患者快速进入X光检查装置内，以此实现智能化控制与提高检测效率。
一种基于智能化控制检查设备

[发明专利]外观检查装置及外观检查方法-CN202080047072.5在审
发明人：柴田惠司 -专利权人：日本电产株式会社
申请日： 2020-06-26 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：外观检查装置是使用拍摄检查对象物(M)而得的图像数据进行外观检查的外观检查装置。外观检查装置具备：两个光发射部，该两个光发射部朝向检查对象物发射光；以及拍摄部，该拍摄部对检查对象物的被两个光发射部照射光的检查区域进行拍摄。在沿与拍摄部的光轴方向正交的方向观察时，两个光发射部位于至少一部分在光轴方向上重叠的位置，且在沿光轴方向观察时，两个光发射部位于离拍摄部的光轴的距离不同的位置。
外观检查装置方法

[发明专利]布图的检查装置、检查方法以及半导体装置的制造方法-CN200710142159.7无效
发明人：井上广;渡边智英;吉川绫司 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2007-06-29 - 公布日： 2008-01-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种即使在检查对象的尺寸在检查光的波长以下，也能够进行高分辨度检查的布图检查装置、布图检查方法以及半导体装置的制造方法。检查装置具有用来通过透过光进行检查的第1投光系统、用来通过反射光进行检查的第2投光系统中的至少一个，用来通过对在检查对象上的布图图像进行摄像的检查光学系统，用来承载并移动上述检查对象的台子，用来增强在上述布图上衍射的光的衍射光控制单元
检查装置方法以及半导体制造

[发明专利]光学检查装置和利用其的检查方法-CN201010219050.0无效
发明人：崔铉镐;金敏秀 -专利权人： AJU高技术公司
申请日： 2010-06-25 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供一种光学检查装置和利用其的检查方法。该光学检查装置和利用其的检查方法能够提高检查效率。检查对象物(10)放置在支承单元(100)上。第一照明单元(400)产生短波长的第一光，向检查对象物(10)照射第一光。拍摄单元(200)拍摄第一光所照射的检查对象物(10)。伴随与此，光学检查装置(1000)由于照射短波长的光拍摄检查对象物(10)，所以可以检查在检查对象物(10)上形成的透明图案是否合格。
光学检查装置利用方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条