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[外观设计]探针测试机-CN201830605705.5有效
发明人：吴东洛 -专利权人：吴东洛
申请日： 2018-10-29 - 公布日： 2019-03-22 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：探针测试机。2．本外观设计产品的用途：用于测试触摸屏参数。3．本外观设计的设计要点：产品形状。4．最能表明设计要点的图片或者照片：立体图。
外观设计探针测试机测试触摸屏产品形状图片

[实用新型]电容器测试装置-CN202221705252.0有效
发明人：陶志勇;杨神龙;张廷珏;何武 -专利权人：长沙汇莱仕智能技术有限公司
申请日： 2022-07-04 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电容器测试装置，包括：电容器料盘以及测试单元；电容器料盘包括料盘主体、第一料盘探针组件以及第二料盘探针组件，第一料盘探针组件与第二料盘探针组件设置在料盘主体相对的两侧；测试单元包括充电测试机构、漏电测试机构以及放电测试机构，充电测试机构、漏电测试机构以及放电测试机构沿预设方向依次排布，充电测试机构包括第一探针组件以及与第一探针组件间隔设置的第二探针组件，漏电测试机构包括第三探针组件以及与第三探针组件间隔设置的第四探针组件，放电测试机构包括第五探针组件以及与第五探针组件间隔设置的第六探针组件。上述的电容器测试装置能够提高电容器充电测试、放电测试以及漏电测试的工作效率。
电容器测试装置

[发明专利]一种Mini/MicroLED短路测试治具及测试方法-CN202010287999.8在审
发明人：张凯 -专利权人：韦森特(东莞)科技技术有限公司
申请日： 2020-04-14 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种Mini/MicroLED短路测试治具及测试方法，Mini/MicroLED短路测试治具包括测试机主体，所述测试机主体上设有产品放置区、探针测试机构、PCB板和控制组件盖壳，所述产品放置区、探针测试机构和PCB板均设置在测试机主体上端面，所述探针测试机构位于产品放置区后方，所述PCB板位于探针测试机构后方，所述控制组件盖壳位于探针测试机构以及PCB板的上方，且所述控制组件盖壳与测试机主体后侧通过合页做可转动连接，所述探针测试机构和所述控制组件盖壳均与PCB板电性连接；本发明可针对每个Mini/MicroLED进行精密的单独电阻测试，检测效率高、设备体积小，提高了产品检测质量，可连接信号源机箱，对产品进行快速老化测试
一种 mini microled 短路测试方法

[实用新型]一种Mini/MicroLED短路测试治具-CN202020538766.6有效
发明人：张凯 -专利权人：韦森特(东莞)科技技术有限公司
申请日： 2020-04-14 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种Mini/MicroLED短路测试治具，包括测试机主体，所述测试机主体上设有产品放置区、探针测试机构、PCB板和控制组件盖壳，所述产品放置区、探针测试机构和PCB板均设置在测试机主体上端面，所述探针测试机构位于产品放置区后方，所述PCB板位于探针测试机构后方，所述控制组件盖壳位于探针测试机构以及PCB板的上方，且所述控制组件盖壳与测试机主体后侧通过合页做可转动连接，所述探针测试机构和所述控制组件盖壳均与PCB板电性连接；本实用新型可针对每个Mini/MicroLED进行精密的单独电阻测试，检测效率高、设备体积小，提高了产品检测质量，可连接信号源机箱，对产品进行快速老化测试。
一种 mini microled 短路测试

[实用新型]一种测试灵活的飞针测试机探针装置-CN202121786646.9有效
发明人：王鑫星 -专利权人：南京拉思德新材料科技有限公司
申请日： 2021-08-03 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试灵活的飞针测试机探针装置，涉及测试机技术领域，包括包括测试机本体，所述测试机本体内的探针与测试机本体拆卸连接，所述测试机本体内设置有用于连接探针的连接组件。在本实用新型中，在本实用新型中，通过增加了连接组件，从而保证了探针头与连接座的同轴度，避免了探针头在更换完成后需要人工手动校准或自动校准的问题，减小了探针更换的时间。
一种测试灵活探针装置

[发明专利]一种晶圆测试系统-CN201611009771.2在审
发明人：王玉龙;张志勇;祁建华;方华;牛勇 -专利权人：上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2016-11-16 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆测试系统，包括探针台，用于得到当前位置坐标，并将测试结果进行显示；工作站，用于将所述当前位置坐标和开始测试指令发送给测试机，并接收测试机的测试结果；测试机，用于根据当前位置坐标开始测试；探针台接收器，用于接收测试结果；探针台发送器，用于向工作站发送位置坐标；工作站接收器，用于接收探针台的位置坐标和测试机的测试结果；工作站发送器，用于向测试机发送位置坐标，向测试机发送测试开始指令以及向探针台发送测试结果；测试机发送器，用于向工作站发送测试结果；测试机接收器，用于接收测试开始指令，节省空间和降低了布线难度。
一种测试系统

[实用新型]一种具有漏孔检测功能的通断测试机-CN201320059385.X有效
发明人：陈有生;葛建雄;陈瑞琳;谢伟明;杨晓新;苏维辉;郑惠芳;沈斌;郑楚强;黄函 -专利权人：汕头超声印制板公司
申请日： 2013-02-02 - 公布日： 2013-08-07 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种具有漏孔检测功能的通断测试机，包括通断测试机本体，其特征是：还包括多对上探针和下探针，上探针安装在所述通断测试机本体的上模板上，下探针安装在所述通断测试机本体的下模板上，上探针和下探针均与通断测试机的控制系统电连接由于设置了多对上探针和下探针，上探针和下探针均与控制系统电连接，在通断测试机对电路板进行电性能测试的同时，实现了漏钻孔、漏锣槽的自动检测，检漏率达到100%，检测效果好，且出厂产品的质量大幅度提高。
一种具有漏孔检测功能测试

[实用新型]高性能射频遥控自动化测试装置-CN201621454399.1有效
发明人：李英才 -专利权人：深圳市华宇半导体有限公司
申请日： 2016-12-28 - 公布日： 2017-08-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高性能射频遥控自动化测试装置，该装置包括测试机、测试模组、探针卡和探针台；测试机的数字通道及电源和测试模组均连接在探针卡上，探针卡可与待测晶圆连接，且其与待测晶圆连接后，测试机、测试模组和待测晶圆三者电气连接；测试机与探针台通讯连接，并可将测试结果发送给探针台，并在该探针台上生成测试MAP图。本实用新型测试机加测试模组相结合的方式可以有效利用测试机本身具有的稳定通讯和高精度的模拟量测量，利用测试模组设置测试模式的简洁性，简化测试程序，实现量产测试的高效性和稳定性。
性能射频遥控自动化测试装置

[实用新型]芯片测试机探针保护装置-CN201320532939.3有效
发明人：孟明兴 -专利权人：山东禹城汉能光伏有限公司
申请日： 2013-08-27 - 公布日： 2014-01-08 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种芯片测试机探针保护装置。在日常测试作业中，测试机探针由于反复测试作业测试机内弹簧与针脚接触发生变化以及由于测试中芯片位置由于其它原因位置抬高而造成测试机探针弹簧超出变形量造成探针损坏。为此，本芯片测试机探针保护装置，包括上、下两块四氟板、弹簧和压力传感器，弹簧连接上、下两块四氟板；压力传感器安装在上、下两块四氟板之间，用于收集下压时上、下两块四氟板承受的压力；上四氟板两边缘均通过螺丝连接弹性测量探针本实用新型芯片测试机探针保护装置，结构简单、设计科学、使用方便，可保护测试机的探针不会承受大的变形量，并能够固定每次进行测试作业探针的收缩距离，从而对探针起到保护的作用。
芯片测试探针保护装置

[实用新型]探针台测试系统及探针台测试显示装置-CN201020142761.8有效
发明人：顾汉玉 -专利权人：华润赛美科微电子(深圳)有限公司
申请日： 2010-03-22 - 公布日： 2010-11-17 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种探针台测试系统，包括探针台和测试机，所述探针台与测试机连接，向测试机发送测试数据或接收测试机的反馈数据，还包括探针台测试显示装置，所述探针台测试显示装置与探针台及测试机相连接，获取并对所述测试数据和反馈数据进行处理，实时生成并显示测试分布文件。还涉及一种探针台测试显示装置。本实用新型能够实时显示测试结果，便于测试员在测试过程中及时发现并处理问题，而不必等待整个产品测试结束后再处理。改善了生产管理、提高了生产效率。并且不需要更换现有的探针台设备，节省了成本、避免了浪费。
探针测试系统显示装置

[发明专利]一种电池片测试机构-CN201710831290.8有效
发明人：李强;陆瑜 -专利权人：苏州迈为科技股份有限公司
申请日： 2017-09-15 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电池片测试机构，电池片的正反面电极不对应，测试机构包括立板、在立板上上下滑动的上测试探针组件和下测试探针组件，上测试探针组件包括上探针排和固定在上探针排上的上探针，下测试探针组件包括下探针排和固定在下探针排上的下探针，上探针与电池片的正面电极对应，下探针与电池片的反面电极对应；测试机构还包括虚接探针，虚接探针固定在上探针排上并与下探针相对应，或者，虚接探针固定在下探针排上并与上探针相对应，测试时，上探针、下探针和虚接探针均抵在电池片上该电池片测试机构结构简单，可在电池片进行测试时，使电池片上下表面的受力均衡，从而降低电池片的碎片率。
一种电池测试机构

[发明专利]测试系统及其测试载具-CN202010112965.5在审
发明人：邱东樑;蔡明钦;何孟谕 -专利权人：京元电子股份有限公司
申请日： 2020-02-24 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供一种测试系统，用于测试探针卡，包含：测试载具及测试机。测试载具包含传导层，用于与探针卡电性接触。测试机传送测试信号至探针卡，其中通过探针卡的测试信号经由传导层回馈至测试机。
测试系统及其

[发明专利]测试机转接装置-CN202110538303.9在审
发明人：肖宇;岳湘;易涛 -专利权人：无锡奇众电子科技有限公司
申请日： 2021-05-18 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试机转接装置，包括测试机固定模块以及转接模块，所述转接模块可拆式安装在测试机固定模块上，所述测试机固定模块用于安置测试机；所述转接模块底部安装有用于转接的线路板，线路板与测试机之间通过探针连接，转接模块的顶部也设置转接用的线路板，顶部的线路板的触点与底部线路板之间通过焊接的导线电连接，所述转接模块还包括一个双面探针盘，双面探针盘两侧均设置有探针，双面探针盘其中一面探针连接顶部的线路板，另一侧的探针用于连接待测试的装置当测试不同型号的装置时，无需重新焊接导线，选择双面探针盘与顶部线路板接通的触点或者更换探针盘即可，使用较为方便。
测试转接装置

[实用新型]测试机转接装置-CN202121067264.0有效
发明人：肖宇;岳湘;易涛 -专利权人：无锡奇众电子科技有限公司
申请日： 2021-05-18 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试机转接装置，包括测试机固定模块以及转接模块，所述转接模块可拆式安装在测试机固定模块上，所述测试机固定模块用于安置测试机；所述转接模块底部安装有用于转接的线路板，线路板与测试机之间通过探针连接，转接模块的顶部也设置转接用的线路板，顶部的线路板的触点与底部线路板之间通过焊接的导线电连接，所述转接模块还包括一个双面探针盘，双面探针盘两侧均设置有探针，双面探针盘其中一面探针连接顶部的线路板，另一侧的探针用于连接待测试的装置当测试不同型号的装置时，无需重新焊接导线，选择双面探针盘与顶部线路板接通的触点或者更换探针盘即可，使用较为方便。
测试转接装置

[发明专利]集成电路测试系统及测试方法-CN201210413616.2有效
发明人：顾良波;张志勇;余琨;王锦;叶建明;郝丹丹 -专利权人：上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2012-10-25 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种集成电路测试系统及测试方法，其中，所述集成电路测试系统包括：多台测试机及一台探针台，所述探针台与所述多台测试机信号连接；当探针台定位到一待测芯片后，所述探针台同时向所述多台测试机发送SOT在此，采用了多台测试机，由此便能减少对待测芯片的检测周期，提高检测效率，降低检测成本。
集成电路测试系统方法

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