专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1130583个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [实用新型]一种基于成像屏位置调整的单目视觉测量装置-CN202220578693.2有效
  • 朱兴龙;严巧梦;刘海鹰 - 扬州大学
  • 2022-03-17 - 2022-08-30 - G01B11/02
  • 本实用新型公开了一种基于成像屏位置调整的单目视觉测量装置,其包括支撑组件,支撑组件包括支撑架,支撑架上侧固定连接有零件支架,零件支架后方的支撑架上固定连接有连接板;测量组件,测量组件包括可转动地连接在连接板上的转动盘,转动盘远离连接板的一端相对零件支架设置,转动盘上连接有成像屏和相机,相机的成像平面平行于成像屏的成像面,零件支架相对转动盘的一端连接有用于安装激光器的安装支架和透镜,左右方向上,透镜在安装支架和成像屏之间,成像屏在透镜和相机支架,安装支架下方的支撑架上连接有圆柱台;本实用新型结构简单,成像屏的角度可调,可通过调节成像屏的角度,使从透镜反射出去的光点能在成像屏上清晰成像
  • 一种基于成像位置调整目视测量装置
  • [发明专利]一种矿斗所载矿物体积测量方法及系统-CN201910916143.X有效
  • 杨文龙;陈辰;欧阳健强;吴富姬;赵志刚;马保亮;李建;张钰鹏;吴鸿辉 - 赣州有色冶金研究所
  • 2019-09-26 - 2021-02-05 - G01F22/00
  • 本发明公开一种矿斗所载矿物体积测量方法及系统,应用于一种测量装置。该测量装置包括处理器和位于矿斗轨道正上方的三维成像装置;三维成像装置的拍摄方向朝向正下方;三维成像装置的输出端与处理器的输入端连接;三维成像装置用于拍摄矿斗图像,处理器用于计算矿物体积;该测量方法包括:获取三维成像装置拍摄的矿斗图像;矿斗图像中包含图像深度信息;识别矿斗图像中矿斗所在区域各个位置的深度信息,得到矿斗的上表面各点到三维成像装置的竖直距离;根据矿斗的形状和大小以及矿斗的上表面各点到三维成像装置的竖直距离本发明的测量方法及系统能够直接在现有采矿方式的基础上实现矿物计量。
  • 一种矿物体积测量方法系统
  • [发明专利]一种图像配准方法、装置及热成像摄像机-CN201810322698.7有效
  • 葛路烨;蒋贤满;张振洲;袁炜军 - 杭州海康微影传感科技有限公司
  • 2018-04-11 - 2020-12-18 - G01J5/00
  • 本发明实施例提供了一种图像配准方法、装置及热成像摄像机。方法包括:获取激光测距得到的热成像镜头和测量对象之间的距离,作为第一距离;调整测量对象的第一热成像图像的分辨率,和/或,测量对象的第一可见光图像的分辨率,以使第一热成图像的分辨率和第一可见光图像的分辨率相同;根据第一距离和预设的配准参数,确定为配准第一热成像图像和第一可见光图像,所需要的补偿偏移量;按照补偿偏移量,配准第一热成像图像和第一可见光图像。本发明可以通过激光测距,准确地获取热成像镜头和测量对象之间的距离,由于确定补偿偏移量时,基于的是该准确测量得到的距离,因此误差较小,实现更准确地配准第一热成像图像和第一可见光图像。
  • 一种图像方法装置成像摄像机
  • [发明专利]低轨道航天器的近红外光成像式自主导航敏感器系统-CN200710091004.5无效
  • 郝云彩 - 北京控制工程研究所
  • 2007-03-29 - 2008-10-01 - G01C21/24
  • 本发明提供一种低轨道航天器的近红外光成像式自主导航敏感器系统,其包括光学测量成像组件、红外光探测器焦平面组件、惯性测量组件、信息处理与误差校正处理单元组件;其中所述的光学测量成像组件包括成像镜头,恒星成像的折转反射镜和地球成像折转反射镜其主要解决低轨道航天器不依赖于卫星导航系统的三轴姿态和轨道高度一体化高精度实时测量问题。其采用近红外透镜或者反射镜系统大视场平场成像克服了现有技术紫外敏感器存在的近红外光学系统复杂和成本高的缺点,通过采用透过率区域变化滤光片解决了恒星和地球亮度巨大差异带来的大动态范围探测问题。采用光学和惯性测量组合一体化设计可以减小尺寸重量和功耗,多敏感器信息处理与误差校正处理可以节约资源,发挥信息融合的优势。
  • 轨道航天器红外光成像自主导航敏感系统
  • [发明专利]低轨道航天器的紫外光成像式自主导航敏感器系统-CN200710091005.X无效
  • 郝云彩;王丽;蔡伟;应磊;刘梁栋 - 北京控制工程研究所
  • 2007-03-29 - 2008-10-01 - G01C21/24
  • 本发明提供一种低轨道航天器的紫外光成像式自主导航敏感器系统,其包括光学测量成像组件、紫外光探测器焦平面组件、惯性测量组件、信息处理与误差校正处理单元组件;其中所述的光学测量成像组件包括成像镜头,恒星成像的折转反射镜和地球成像折转反射镜其主要解决低轨道航天器不依赖于卫星导航系统的三轴姿态和轨道高度一体化高精度实时测量问题。其采用近紫外透镜或者反射镜系统大视场平场成像克服了现有技术紫外敏感器存在的近紫外光学系统复杂和成本高的缺点,通过采用透过率区域变化滤光片解决了恒星和地球亮度巨大差异带来的大动态范围探测问题。采用光学和惯性测量组合一体化设计可以减小尺寸重量和功耗,多敏感器信息处理与误差校正处理可以节约资源,发挥信息融合的优势。
  • 轨道航天器紫外光成像自主导航敏感系统
  • [发明专利]基于CCD成像技术的数字V棱镜折射率测量仪及测量方法-CN201310023876.3无效
  • 曹秒;安志勇;曹维国;李延风;杨帆;何蓉 - 长春理工大学
  • 2013-01-22 - 2013-05-01 - G01M11/02
  • 基于CCD成像技术的数字V棱镜折射率测量仪及测量方法属于光电测量仪器技术领域。现有技术测量精度低。本发明之测量仪其特征在于成像系统、测角系统分别连接处理系统,处理系统连接伺服系统,伺服系统连接传动系统。本发明之测量方法其特征在于所述数字测量图像被传送给处理系统,处理系统生成基准图像并判断数字测量图像与基准图像的位置关系,将该位置关系偏差作为控制信号并传递给伺服系统,伺服系统根据该控制信号驱使传动系统驱动成像系统偏转,直到数字测量图像与基准图像对准,此时的成像系统偏转角度θ'等于测量光偏折θ角并由测角系统检测和传送给处理系统,处理系统根据该偏转角度θ'计算被测样件折射率n。本发明测量精度达到±5×10-6。
  • 基于ccd成像技术数字棱镜折射率测量仪测量方法
  • [发明专利]一种组合式多点异面低频声源3D成像方法-CN202211597644.4在审
  • 初宁;嘉法理;李晓明;刘慧敏;王文龙;任华江 - 浙江上风高科专风实业股份有限公司
  • 2022-12-12 - 2023-06-09 - G01S5/18
  • 本发明公开了一种组合式多点异面低频声源3D成像方法,运用64通道‑3D球形阵列进行非同步测量:提出一种独特的公转与自转移动方式;在低频声源中能够快速获得3D的点声源成像。本发明提供的方法在一定程度上,公转轨迹结合自转的非同步测量方法比柱面轨迹非同步测量方法在合成麦克风的密度上进一步提高,方法稳定高效,与传统方法相比,不仅从二维成像延展到三维成像,还进一步提高了三维低频点声源成像的分辨率,公转轨迹结合自转的非同步测量适用于任何3D球形麦克风阵列,不对麦克风阵列造成损伤,相较于柱面轨迹非同步测量成像结果,极大的提高了低频范围内的分辨率,便于大范围、远距离的测量以及可借用机械装置实现智能自动化测量
  • 一种组合式多点低频声源成像方法
  • [发明专利]交会成像敏感器测量数据的有效性判断方法和装置-CN202310759639.7在审
  • 张昊;王志毅;张一;解永春;胡军;奚坤 - 北京控制工程研究所
  • 2023-06-26 - 2023-09-12 - G01C25/00
  • 本发明涉及交会对接导航技术领域,特别涉及一种交会成像敏感器测量数据的有效性判断方法和装置。其中,方法应用于主动航天器的导航系统,包括:获取每一个交会成像敏感器在主动航天器基准坐标系下的安装方位和安装位置;基于安装方位和安装位置,对每一个交会成像敏感器对同一合作目标在当前测量周期的测量数据进行坐标系转换,得到每一个交会成像敏感器在主动航天器基准坐标系下的目标测量数据;将交会成像敏感器的目标相对位置进行两两对比,得到当前测量周期的第一判断结果;基于第一判断结果,对交会成像敏感器的目标相对姿态进行有效性判断,得到当前测量周期第二判断结果,以此来提高空间交会对接导航系统的可靠性和安全性。
  • 交会成像敏感测量数据有效性判断方法装置
  • [发明专利]一种套刻误差测量装置及测量方法-CN201911189360.X有效
  • 许翱鹏;周钰颖 - 上海微电子装备(集团)股份有限公司
  • 2019-11-28 - 2023-05-02 - G03F7/20
  • 本发明实施例公开了一种套刻误差测量装置及测量方法。装置包括光源、光束传输模块、镜头及测量模块;测量模块包括第一成像单元、第二成像单元及处理单元;光源提供照明光束;光束传输模块将照明光束传输至镜头;接收待测物体衍射并经镜头透射后的信号光束并分束成第一信号光束和第二信号光束;第一信号光束包括待测物体的负级次衍射光,第二信号光束包括正级次衍射光,第一信号光束传输至第一成像单元,第二信号光束传输至第二成像单元;处理单元根据第一成像单元和第二成像单元获取的信号计算待测物体的套刻误差本发明实施例的技术方案,可同时测量套刻标记的正/负级次衍射光,无需进行光阑切换,提高套刻误差测量效率,提高产率。
  • 一种误差测量装置测量方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top