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- [实用新型]干涉装置以及枢纽器-CN201020197820.1无效
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刘家宏
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苏州达方电子有限公司;达方电子股份有限公司
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2010-05-09
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2011-02-23
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F16C11/10
- 本实用新型揭露一种干涉装置，用于枢纽器，其中该枢纽器具有枢轴。该干涉装置包含第一干涉组件以及第二干涉组件分别套设于该枢轴。该第一干涉组件具有一对第一干涉结构对称于该枢轴以及至少一第三干涉结构不对称于该枢轴，并且该第二干涉组件具有一对第二干涉结构对称于该枢轴以及至少一第四干涉结构不对称于该枢轴，其中该至少一第四干涉结构系与该至少一第三干涉结构呈相对配置本实用新型的枢纽器藉由第一干涉结构、第二干涉结构、第三干涉结构以及第四干涉结构，可避免可携带式电子装置的本体与显示面板容易维持于使用者不顺手的角度的状况发生。
- 干涉装置以及枢纽
- [发明专利]一种激光白光复合干涉测量系统及方法-CN201810448837.0有效
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杨树明;薛兴昌;张国锋;杨新宇;杨林林;吉培瑞
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西安交通大学
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2018-05-11
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2021-01-19
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G01B9/02
- 本发明公开了一种激光白光复合干涉测量装置及方法，可以将单色光相移干涉与白光扫描干涉相结合，提高系统的测量性能。该测量装置包括白光LED光源、准直透镜、滤光片、光学显微干涉模块和图像采集装置。测量方法是首先对被测样品进行白光扫描干涉测量。然后进行单色光相移干涉测量，只需在分光镜前放置滤光片即可，其它部分与白光扫描干涉相同。将白光扫描干涉测量结果与单色光相移干涉测量结果相结合，可以解决单色光相移干涉中存在的相位模糊问题；相对于白光扫描干涉，复合干涉测量结果具有更高的精度。另外，本发明复合干涉测量系统采用Michelson干涉结构，其横向测量范围远大于商业白光干涉Mirau结构的测量范围，对于大尺寸零件表面检测具有更大优势。
- 一种激光白光复合干涉测量系统方法
- [发明专利]一种简单易调的色散超快测量系统及方法-CN202210128111.5有效
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高磊;黄景晟;朱涛
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重庆大学
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2022-02-11
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2022-11-18
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G01M11/02
- 本发明提供一种简单易调的色散超快测量系统及方法，该系统包括干涉光信号产生装置、待测样品、波形采集装置和光谱仪，干涉信号产生装置用于产生初始干涉光信号，其将所述初始干涉光信号分成两路，一路经待测样品时域拉伸后，形成拉伸干涉光信号，拉伸干涉光信号被传输给波形采集装置，另一路初始干涉光信号被直接传输给光谱仪；波形采集装置对拉伸干涉光信号的波形进行采集，获得时域包络；光谱仪对所述另一路初始干涉光信号的干涉光谱进行采集；基于时域包络与初始干涉光信号的干涉光谱呈等比例缩放，对时域包络和所述干涉光谱进行迭代拟合，计算出所述待测样品的色散量。
- 一种简单色散测量系统方法
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