专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]成像装置及方法、胶囊内窥镜-CN202111564565.9在审
  • 段晓东;游庆虎 - 上海安翰医疗技术有限公司
  • 2021-12-20 - 2022-05-10 - A61B1/04
  • 本申请公开了一种成像装置及方法、胶囊内窥镜,该成像装置包括照明组件和摄像头,摄像头用于对待检体进行成像,其中,照明组件包括第一光源和第二光源,第一光源用于发出白光为摄像头对待检体进行成像提供光线;第二光源用于发出近红外光线为摄像头对待检体进行成像提供光线本申请通过白光对待检体的浅表层进行照射,进而对待检体的浅表层组织进行观测,而通过近红外光对待检体的中间层及深层组织进行照射,进而对待检体的中间层及深层组织进行观测;实现了白光成像和近红外光成像的可切换,
  • 成像装置方法胶囊内窥镜
  • [发明专利]基于FPGA的SDRAM测试方法-CN202310866700.8在审
  • 蔡刚;白明月;吴海平;张瑞;夏启飞;王彩云 - 西安西谷微电子有限责任公司
  • 2023-07-14 - 2023-10-20 - G11C29/12
  • 本发明公开了一种基于FPGA的SDRAM测试方法,FPGA控制芯片接收到测试指令,对待测SDRAM芯片进行走步法写读并对比;如果写入数据与读出数据一致,继续对待测SDRAM芯片进行全0法写读并对比;如果写入数据与读出数据一致,继续对待测SDRAM芯片进行全1法写读并对比;如果写入数据与读出数据一致,继续对待测SDRAM芯片进行55AA法写读并对比;如果写入数据与读出数据一致,继续对待测SDRAM芯片进行AA55法写读并对比;如果写入数据与读出数据一致,继续对待测SDRAM芯片进行自定义写读法写读并对比;如果写入数据与读出数据一致,所述FPGA控制芯片根据测试指令对待测SDRAM芯片进行功能性测试;如果功能性测试的写入数据与读出数据依然一致
  • 基于fpgasdram测试方法
  • [实用新型]全自动洁具智能机器人施釉设备-CN202021762716.2有效
  • 宋旭贵 - 重庆帝王洁具有限公司
  • 2020-08-21 - 2021-07-13 - B28B11/04
  • 本实用新型公开了一种全自动洁具智能机器人施釉设备,包括:用于运输待施釉坯体的上货输送线;用于对待施釉的坯体进行表面除尘操作,并在除尘之后对待施釉的坯体进行定位纠偏的除尘纠偏线;用于对待施釉的坯体进行擦坯操作的第一擦坯线;用于对待施釉的坯体进行二次定位纠偏的二次纠偏线;用于对待施釉坯体的排污口进行擦坯操作的第二擦坯线;用于对待施釉坯体的内部管道进行施釉的管道施釉线;用于对待施釉的坯体进行整体施釉操作的整体施釉线;用于擦拭施釉后的坯体底部的擦底施工线
  • 全自动洁具智能机器人设备
  • [发明专利]一种双向电源装置及其控制方法-CN201911327791.8在审
  • 窦友婷 - 博士德科技(江苏)有限公司
  • 2019-12-20 - 2020-04-17 - H02J7/00
  • 本发明提供了一种双向电源装置及其控制方法,装置包括检测单元、功率单元及数字信号处理单元,数字信号处理单元依据储存的电流值、电压上下限值,对待测物进行充放电;在储存电流值Iset为正值时,若检测电压低于电压上限值则以Iset对待测物充电,若检测电压高于电压上限值,则以DSP内一小电流值Izero‑对待测物放电;在储存电流值Iset为负值时,若检测电压高于电压下限值则以Iset对待测物放电,若检测电压低于电压下限值,则以DSP内一小电流值Izero+对待测物充电。通过设置电压上下限值及内置小电流Izero环路的值,确保了对待测物在充放电过程中的保护作用。
  • 一种双向电源装置及其控制方法
  • [发明专利]一种功能应用测试方法、装置、设备及存储介质-CN201911061956.1在审
  • 陈泽凯 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2019-11-01 - 2021-05-07 - G06F11/36
  • 本发明实施例提供了一种功能应用测试方法、装置、设备及存储介质;该方法包括:获取针对待测试功能应用的目标测试信息;目标测试信息为采用面向切面模式所生成的用于对待测试功能应用进行测试的信息;接收待测试功能应用和针对待测试功能应用的目标测试指令;目标测试指令用于指示利用目标测试信息对待测试功能应用测试;响应目标测试指令,结合目标测试信息,对待测试功能应用进行信息注入,得到携带有更新目标测试信息的目标待测试功能应用;更新目标测试信息为根据目标测试指令完成信息注入后的目标测试信息;当目标待测试功能应用启动时,执行更新目标测试信息,实现对待测试功能应用的测试。
  • 一种功能应用测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种星载软件的测试系统-CN201911225869.5有效
  • 李丹;赵军锁;潘晏涛;吴凤鸽;张健;詹乃军 - 中国科学院软件研究所
  • 2019-12-03 - 2021-10-29 - G06F11/36
  • 本发明提供了一种星载软件的测试系统,涉及软件测试的技术领域,包括:虚拟卫星,桌面卫星,虚拟在轨卫星和数据处理装置,其中,虚拟卫星用于对待测试星载软件进行代码测试;桌面卫星用于在虚拟卫星对待测试星载软件进行代码测试之后,对待测试星载软件进行仿真测试;虚拟在轨卫星用于在桌面卫星对待测试星载软件进行代码测试之后,对待测试星载软件进行系统测试;数据处理装置用于在虚拟在轨卫星对待测试星载软件进行代码测试之后,将待测试星载软件发送至软件定义卫星中进行在轨测试
  • 一种软件测试系统
  • [发明专利]一种光伏组件加速老化测试方法及系统-CN202110228776.9有效
  • 姜飞飞 - 中国科学院电工研究所
  • 2021-03-02 - 2022-07-19 - H02S50/10
  • 本发明提供一种光伏组件加速老化测试方法及系统,所述测试方法以工作流形式依次包含以下步骤:步骤1、在老化测试前,对待测光伏组件进行PL成像、EL成像、EQE二维扫描成像和效率测试;步骤2、设置光伏组件老化测试条件,进行光伏组件老化测试;步骤3、对待测光伏组件进行对角定标;步骤4、对待测光伏组件进行PL成像;步骤5、对待测光伏组件进行EL成像;步骤6、对待测光伏组件进行EQE二维扫描成像;步骤7、对待测光伏组件进行效率测试
  • 一种组件加速老化测试方法系统

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