专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]探针测试校准夹具-CN201020696312.8无效
  • 李建峰 - 常州天合光能有限公司
  • 2010-12-31 - 2011-08-24 - G01R35/00
  • 本实用新型涉及探针测试技术领域,特别是一种探针测试校准夹具,包括夹具连接头、导线和数字显示式万用表,万用表的电流输入端通过导线与夹具连接头连接,夹具连接头插装在探针测试探针插座上连通探针测试恒流源输出端和用表的电流输入端将本探针测试校准夹具插装在探针测试探针插座上,直接调整输入电流值即电流参数,电流值在万用表中能显示到小数点后3位,设置电流参数更加精确,使得仪器的测量结果更加精确。
  • 探针测试仪校准夹具
  • [发明专利]一种自动探针台配方管理方法-CN201310613136.5在审
  • 周波;莫保章 - 上海华力微电子有限公司
  • 2013-11-26 - 2014-05-28 - G06F9/44
  • 本发明公开了一种自动探针台配方管理方法,包括服务器,若干探针台,若干自动测试,将某一台自动测试的主机作为所有自动探针台的服务器,所有自动探针台的配方集中在该服务器上进行管理,所述方法的步骤为:步骤一:自动测试探针台发送需要下载的探针台配方指令;步骤二:探针台自动从服务器上下载该配方指令;步骤三:如果探针台已有该配方指令,则服务器上的指令替换掉该探针台上已有的配方指令,探针台反馈给自动测试,自动测试进行测试;步骤:如果服务器上没有该配方指令,则下载失败,探针台反馈给自动测试,自动测试暂停测试
  • 一种自动探针配方管理方法
  • [实用新型]一种检定探针电阻率测试的装置-CN201220500218.X有效
  • 李金阳 - 贵州航天计量测试技术研究所
  • 2012-09-28 - 2013-03-13 - G01R35/00
  • 本实用新型公开了一种检定探针电阻率测试的装置,它包括探针电阻率测试探针电阻率测试的标准直流恒流源单元电流输出口通过导线接到标准电阻Rn的1和3接线端,探针电阻率测试的电压测量、处理及显示单元的电压输入端通过导线接到标准电阻Rn的2和4接线端,解决了在没有电阻率标准样片的情况下,对探针电阻率和方阻示值误差进行计量检定校准,解决了整体检定法所使用的标准电阻率样片准确度不高,使用操作要求高,使用中易损坏、环境温度修正等个方面的问题
  • 一种检定探针电阻率测试仪装置
  • [发明专利]对薄层材料进行无损测量的方块电阻测试及其测试方法-CN201310444506.7有效
  • 王昕;苟永江;龚红玉 - 广州市昆德科技有限公司
  • 2013-09-23 - 2013-12-25 - G01R27/14
  • 本发明公开了一种对薄层材料进行无损测量的方块电阻测试及其测试方法,该测试包括红宝石探针头、测试架、主机、测量控制系统、测试电压调节器和恒流源通断切换开关,主机内包括恒流源电路和电源电路,测试电压调节器设置在电源电路和探针头之间,用于在测试开始前调节探针头中两个外探针之间的测试电压。恒流源通断切换开关设置在恒流源电路和探针头之间,用于控制在探针针尖完全压触在薄层材料表面后才接通恒流源电路。本发明还公开了基于上述测试测试方法。本发明可以调节1、4探针测试电压,避免发生高压击穿,红宝石探针头有恰当曲率半径和压力,探针压力可在25-250g的较大范围内变化,能够广泛应用于测量各种新型薄层材料。
  • 薄层材料进行无损测量方块电阻测试仪及其测试方法
  • [发明专利]一种高通量材料芯片探针原位电阻测量设备-CN201711019802.7在审
  • 李平;谭奇伟;安富强;刘志伟;曲选辉;秦明礼 - 北京科技大学
  • 2017-10-26 - 2018-02-23 - G01N27/04
  • 本发明提供一种高通量材料芯片探针原位电阻测量设备,属于材料测试技术领域。该设备包括高通量探针探头、耐高温高压气密罐体、样品架台、多通道探针电阻测试、传输线缆和数据记录软件;样品架台位于耐高温高压气密罐体内,高通量探针探头安装在样品架台上,高通量探针探头通过传输线缆连接多通道探针电阻测试,数据记录软件安装于上位机,接收来自多通道探针电阻测试测量的数据。本发明能够在高温高压气体环境下,同时测量和记录多达64个样品的探针电阻随时间、气压、温度等参数的变化,具备足够的精度和可靠性,极高的数据采集频率,低廉的硬件成本和简单的操作方法,同时也可以满足对少量样品电阻精确测量的要求
  • 一种通量材料芯片探针原位电阻测量设备
  • [实用新型]一种高通量材料芯片探针原位电阻测量设备-CN201721402811.X有效
  • 李平;谭奇伟;安富强;刘志伟;曲选辉;秦明礼 - 北京科技大学
  • 2017-10-26 - 2018-05-18 - G01N27/04
  • 本实用新型提供一种高通量材料芯片探针原位电阻测量设备,属于材料测试技术领域。该设备包括高通量探针探头、耐高温高压气密罐体、样品架台、多通道探针电阻测试、传输线缆和数据记录软件;样品架台位于耐高温高压气密罐体内,高通量探针探头安装在样品架台上,高通量探针探头通过传输线缆连接多通道探针电阻测试,数据记录软件安装于上位机,接收来自多通道探针电阻测试测量的数据。本实用新型能够在高温高压气体环境下,同时测量和记录64个样品的探针电阻随时间、气压、温度等参数的变化,具备足够的精度和可靠性,极高的数据采集频率,低廉的硬件成本和简单的操作方法,同时也可以满足对少量样品电阻精确测量的要求
  • 一种通量材料芯片探针原位电阻测量设备
  • [实用新型]一种半导体综合测试-CN202121329792.9有效
  • 吴旭艳 - 上海腾尖检测技术有限公司
  • 2021-06-15 - 2021-11-26 - G01R31/26
  • 本实用新型公开了一种半导体综合测试,涉及半导体测试设备技术领域。包括测试本体,测试本体上表面开设有圆孔,测试本体的圆孔内壁活动套接有探针测试本体上表面设置有集成电线,探针通过集成电线与测试本体电路连接,测试本体上表面开设有参数显示屏,测试本体上表面的前端固定连接有测试台,测试本体上表面固定连接有挡板,测试本体右表面开设有插槽,放置盒右端周表面固定连接有磁石,放置盒的磁石磁吸连接在插槽右端,放置盒右表面固定连接有把手;测试本体前面设置有分类机构,有效的提高了测试人员在拿取半导体时的便捷性
  • 一种半导体综合测试仪
  • [实用新型]一种在线太阳能组件IV测试-CN202120429437.2有效
  • 袁五辉;刘海波;徐咏;杨凡 - 武汉爱疆智能科技有限公司
  • 2021-02-27 - 2021-09-21 - H02S50/10
  • 一种在线太阳能组件IV测试,包括传输机构、探针机构、测试机柜、计算机终端及PLC控制系统;传输机构及探针机构均安装在测试机柜的上方;传输机构用于传输太阳能组件,并使太阳能组件能够到达测试机柜上方的测试位置;探针机构用于当太阳能组件到达测试位置时,使探针与太阳能组件接通,为太阳能组件供电;计算机终端及PLC控制系统均安装在测试机柜的侧面;PLC控制系统分别与测试机柜、传输机构及探针机构连接,用于控制传输机构及探针机构的工作,并控制测试机柜开始测试;计算机终端与测试机柜连接,计算机终端安装有测试软件,用于根据测试软件控制测试机柜工作,并对测试机柜传输来的信息进行处理,以获得测试结果。
  • 一种在线太阳能组件iv测试仪
  • [实用新型]一种自动化探针测试用安全检测防护装置-CN202320474311.6有效
  • 黄德坤 - 南京利源芯科技发展有限公司
  • 2023-03-14 - 2023-09-12 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及探针测试技术领域,尤其涉及一种自动化探针测试用安全检测防护装置,本实用新型的创新点是:通过移动滑块开始左右滑动,进而带动芯片开始对于任意方位进行调整,进而确保检测时的稳定性,进一步确定对于不同位置电阻的精准检测与定位本实用新型是通过设有能快速加热的加热机架,进一步确保了内部始终保持最适宜的检测温度,进一步防止空气中潮湿的空气对于检测结果的影响,进而防止了外界对于内部的干扰,进而确保了检测的准确性,内设有防护外壳,进而确保了探针测试受到的外界冲击,进而确保了探针测试在运行时的稳定性。
  • 一种自动化探针测试仪安全检测防护装置
  • [发明专利]对半导体重掺硅片电阻率进行测试并分档的方法-CN201010157314.4有效
  • 俞振明;曾静 - 高佳太阳能股份有限公司
  • 2010-04-14 - 2010-08-18 - G01R27/02
  • 本发明涉及一种使用探针电阻率测试对半导体重掺硅片电阻率分档的方法,该方法包括:得到各个厚度下电阻率档位和读数档位的对应表;用千分表测试半导体重掺硅片的厚度;取出探针电阻率测试并水平放置,接通电源,校准后预热;用探针电阻率测试测试标准半导体重掺硅片样片的电阻率;将待测半导体重掺硅片平置在测试台上,操作探针电阻率测试进行测量;将显示测试读数与各个厚度下电阻率档位和读数档位的对应表相比对。本发明在测试工作中,最终的结果是要对硅片的电阻率进行分档,利用电阻率分档的边界值除以厚度系数获得硅片的测试读数分档。从而在批量的测试过程中,只需简单比对对应厚度下的读数分档即可获得电阻率的分档。
  • 对半导体硅片电阻率进行测试分档方法
  • [实用新型]一种半导体器件检测用探针测试-CN202020392377.7有效
  • 卫静婷;陈利伟 - 广东开放大学(广东理工职业学院)
  • 2020-03-25 - 2020-11-10 - G01R1/073
  • 本实用新型公开了一种半导体器件检测用探针测试,包括测试本体,所述测试本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧,所述测试本体左右两侧上端均固定连接有卡块,所述测试本体上端活动连接有测试架底板,所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板,所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板,所述顶板上开设有螺纹孔,所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆,所述丝杆下端转动连接有固定座,所述固定座下端固定连接有安装座该半导体器件检测用探针测试,提高装置的稳定性,缩小装置占地面积,进一步提高测试本体与测试架底板间连接的牢固性,提高测试架底板的减震效果,有效提高安装座上下移动时的平稳性。
  • 一种半导体器件检测探针测试仪

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