专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]宽禁带功率半导体场效应晶体管动态特性测量装置及方法-CN202210362114.5在审
  • 刘扬;黎成章;王自鑫 - 中山大学
  • 2022-04-07 - 2022-07-08 - G01R27/02
  • 本发明提出了一种宽禁带功率半导体场效应晶体管动态特性测量装置及方法,装置包括动态特性测量电路模块以及数据采集模块;其中,所述动态特性测量电路模块用于向待测器件施加电压应力,进行动态特性测量;所述数据采集模块用于采集待测器件的电学参数;所述动态特性测量电路模块包括控制信号输出电路、电压应力施加电路以及钳位电路;其中,所述控制信号输出电路用于生成驱动信号控制所述电压应力施加电路的工作状态;所述电压应力施加电路用于对待测器件施加栅极电压应力以及漏极电压应力;所述钳位电路用于供所述数据采集模块采样待测器件的漏极与源极之间的导通电压降,获取待测器件的动态导通电阻。
  • 宽禁带功率半导体场效应晶体管动态特性测量装置方法
  • [发明专利]基于偏振成像的MEMS面内振动特性测量方法-CN202011071821.6在审
  • 桑梅;董洁;王双;韩群;胡浩丰 - 天津大学
  • 2020-10-09 - 2021-03-09 - G01M7/02
  • 本发明涉及MEMS面内动态特性测量领域,为实现MEMS器件高精度的面内动态位移特性测量,突破现有技术的限制,得到更为清晰的图像以及精确地测量出MEMS的面内振动情况,并且能够探测MEMS器件的光学特性为此,本发明采取的技术方案是,基于偏振成像的MEMS面内振动特性测量方法,通过频闪补光提高图像的亮度,获得更为清晰的视频图像,将采集到的视频图像进行偏振降噪处理,增强图像的对比度,通过频闪成像的面内位移算法,计算得到MEMS器件的面内振动位移,最后通过偏振成像技术分析MEMS器件的偏振特性。本发明主要应用于面内动态特性测量场合。
  • 基于偏振成像mems振动特性测量方法
  • [发明专利]一种滑动摩擦结合面动态特性测量装置及测量方法-CN202110598567.3在审
  • 石坤 - 西安理工大学
  • 2021-05-28 - 2021-09-10 - G01M13/00
  • 本发明公开的一种滑动摩擦结合面动态特性测量装置,包括交流变频电机,交流变频电机的输出轴上同轴固定连接主轴,主轴上靠近交流变频电机的位置设置有扭矩传感器,主轴远离交流变频电机的一端设置有角速度传感器,主轴外同轴固定套接有圆盘,圆盘上设置有配重块,圆盘的径向上方滑动配合有底面与其形状相适应的环块,环块的一侧设置有位移传感器,环块的上方设置有压力传感器;本发明还公开了一种滑动摩擦结合面动态特性测量装置的测量方法。本发明公开的一种滑动摩擦结合面动态特性测量装置及测量方法,解决了现有技术针对滑动摩擦结合面的特性尤其是动态特性的研究还较少的问题。
  • 一种滑动摩擦结合动态特性测量装置测量方法

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