专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种线型激光气体遥测仪-CN202320114962.4有效
  • 陈海永;郭东歌;王佳琪;邢怀昌;孟庆逍;徐春杰;赵丽艳 - 汉威科技集团股份有限公司
  • 2023-01-18 - 2023-08-01 - G01N21/39
  • 本实用新型提供一种线型激光气体遥测仪,包括线型激光遥测光路单元、激光器控制单元、信号分析处理单元、显示报警与传输单元以及供电单元,线型激光遥测光路单元包括检测激光器、瞄准激光器、激光合束器、第一聚光透镜、线型直器、第二聚光透镜和光电探测器,线型直器包括直聚焦器和直整形器,所述直聚焦器用于将合束激光直汇聚成点光斑,所述直整形器用于将所述直聚焦器直汇聚后的点光斑整形为线型光斑本实用新型解决了现有激光遥测装置中点状检测光斑小、不易瞄准、快速巡检时容易出现漏测的问题;且由于线型检测光斑较长,可快速完成对大型空间的扫描,节省了巡检时间,满足安全生产的预警需求。
  • 一种线型激光气体遥测
  • [发明专利]对称移轴向高分辨显微成像装置-CN201310229605.3无效
  • 黄向东;谭久彬 - 哈尔滨工业大学
  • 2013-06-09 - 2013-09-04 - G01B9/04
  • 对称移轴向高分辨显微成像装置属于光学精密测量领域;对称移轴向高分辨显微成像装置,包括照明光路和探测光路,所述的照明光路为:激光器发出的光束经直镜组直后,平行穿过偏振分光镜和1/4λ波片所述的探测光路为:从被测物体反射的光束,先后经过聚焦显微物镜和1/4λ波片,并由偏振分光镜反射到1:1普通分光镜,1:1普通分光镜反射光路上和直射光路上均设置有探测光路,实现两路光束的探测;本发明不仅等同于差动显微技术,而且移量可准确设置,使系统轴向分辨能力达到最优,同时免除了复杂的针孔对称离调整。
  • 对称移焦式轴向分辨显微成像装置
  • [发明专利]一种面光纤直器和光纤-CN201710669731.9在审
  • 严强;刘章玉;唐松;杨标;连小龙 - 成都优博创通信技术股份有限公司
  • 2017-08-08 - 2017-10-10 - G02B27/30
  • 本发明提供了一种面光纤直器和光纤,属于光学器件技术领域,面光纤直器包括直透镜、光纤插芯、插芯套管、安装管和固定件,安装管设置有连通的第一安装槽、第二安装槽和第一通孔,第一通孔位于第一安装槽与第二安装槽之间,直透镜安装用于第一安装槽,插芯套管安装于第二安装槽,固定件用于固定插芯套管与安装管之间的位置,光纤插芯位于第一通孔内,光纤插芯的一端与直透镜连接,光纤插芯的另一端位于插芯套管内;光纤包括如上的面光纤直器本发明提供的面光纤直器零件较少,节省了物料和装配步骤,让工艺更加的简单,增加的装配精度,也让面光纤直器的一致性更好,更便于大规模生产。
  • 一种共焦面光纤准直器
  • [实用新型]一种面光纤直器和光纤-CN201720986122.1有效
  • 严强;刘章玉;唐松;杨标;连小龙 - 成都优博创通信技术股份有限公司
  • 2017-08-08 - 2018-03-30 - G02B27/30
  • 本实用新型提供了一种面光纤直器和光纤,属于光学器件技术领域,面光纤直器包括直透镜、光纤插芯、插芯套管、安装管和固定件,安装管设置有连通的第一安装槽、第二安装槽和第一通孔,第一通孔位于第一安装槽与第二安装槽之间,直透镜安装用于第一安装槽,插芯套管安装于第二安装槽,固定件用于固定插芯套管与安装管之间的位置,光纤插芯位于第一通孔内,光纤插芯的一端与直透镜连接,光纤插芯的另一端位于插芯套管内;光纤包括如上的面光纤直器本实用新型提供的面光纤直器零件较少,节省了物料和装配步骤,让工艺更加的简单,增加的装配精度,也让面光纤直器的一致性更好,更便于大规模生产。
  • 一种共焦面光纤准直器
  • [发明专利]暗场显微测量宽度定值方法-CN202210031996.7在审
  • 刘俭;刘辰光;姜勇;由小玉 - 哈尔滨工业大学
  • 2022-01-12 - 2022-04-22 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种暗场显微测量宽度定值方法,包括基于暗场显微镜通过调节成像端的探测孔径获取的下表面反射图像PR和下表面散射图像P显微成像模型计算沟槽下表面强度像中沟槽边缘位置的归一化光强值IE,根据实际测量得到的下表面反射图像PR以及光强值IE确定实际边缘位置值,获得反射探测模式下沟槽宽度定值结果;通过实际测量得到的下表面散射图像Ps,通过高斯拟合沟槽边缘响应峰值位置值,获得散射探测模式下沟槽宽度定值结果为暗场显微镜提供一种更为准确合理的沟槽宽度定值方法。
  • 暗场显微测量宽度方法
  • [发明专利]一种光谱探头精确对准装置和对准方法-CN202110655147.4在审
  • 何贵明;李旺军;刘小勤 - 成都翱图智能科技有限公司
  • 2021-06-11 - 2021-08-06 - G01J1/04
  • 本发明公开了一种光谱探头精确对准装置和对准方法,包括光源,点状靶标,直物镜,分光棱镜,角锥棱镜,成像物镜,面阵相机,胶合五棱镜,聚焦物镜,第一光谱探头,聚焦物镜,第二光谱探头,其中聚焦物镜和聚焦物镜相对于胶合五棱镜对称放置,其中点状靶标和直物镜组成平行光管,形成直光路,胶合五棱镜由镀半反半透膜的五棱镜和22.5度直角棱镜组成,五棱镜的出光面镀有半反半透膜,胶合面镀有半反半透膜,第一光谱探头由色散镜头和针孔组成,第二光谱探头由色散镜头和针孔组成本发明提供可以实现两个光谱探头精密对准的对准装置和对准方法,可以很好的解决两探头的对准问题。
  • 一种光谱探头精确对准装置方法
  • [实用新型]一种光谱探头精确对准装置-CN202121310206.6有效
  • 何贵明;李旺军;刘小勤 - 成都翱图智能科技有限公司
  • 2021-06-11 - 2022-02-25 - G01J1/04
  • 本实用新型公开了一种光谱探头精确对准装置,包括光源,点状靶标,直物镜,分光棱镜,角锥棱镜,成像物镜,面阵相机,胶合五棱镜,聚焦物镜,第一光谱探头,聚焦物镜,第二光谱探头,其中聚焦物镜和聚焦物镜相对于胶合五棱镜对称放置,其中点状靶标和直物镜组成平行光管,形成直光路,胶合五棱镜由镀半反半透膜的五棱镜和22.5度直角棱镜组成,五棱镜的出光面镀有半反半透膜,胶合面镀有半反半透膜,第一光谱探头由色散镜头和针孔组成,第二光谱探头由色散镜头和针孔组成本实用新型提供可以实现两个光谱探头精密对准的对准装置和对准方法,可以很好的解决两探头的对准问题。
  • 一种光谱探头精确对准装置
  • [发明专利]一种差动双区域轴向测量装置-CN201310229370.8有效
  • 黄向东;谭久彬;尹可 - 哈尔滨工业大学
  • 2013-06-09 - 2013-09-04 - G01B11/00
  • 一种差动双区域轴向测量装置属于三维显微测量领域;该差动双区域轴向测量装置包括设置在直射光路上的激光器,扩束直镜,偏正分光棱镜、1/4玻片,探测物镜和样品,从激光器发射的激光束,经扩束直镜扩束直后,平行穿过偏正分光棱镜,再经过1/4玻片,由探测物镜会聚到样品上;还包括设置在反射光路上的差动双区域探测光路,从样品反射的光束,再依次经过探测物镜、1/4玻片,由偏正分光棱镜反射,入射到差动双区域探测光路;这种设计,不仅具备更高的轴向探测灵敏度,而且能够抑制系统中乘性噪声的影响;同时获得单调变化的平面附近轴向曲线,通过一次测量即可获得样品轴向位置。
  • 一种差动区域轴向测量装置
  • [实用新型]一种焦距测量仪-CN201520125766.2有效
  • 陶沙;陶源;黄荻 - 陶沙;陶源;黄荻
  • 2015-03-04 - 2015-07-15 - G01M11/02
  • 本实用新型涉及一种焦距测量仪,包括依次设置在主光轴上的照明系统、玻罗板、直物镜和接收器;玻罗板设置于直物镜的面上,形成平行光管;该测量仪还包括镜,设置于直物镜和接收器之间的主光轴上,镜的横向放大倍率为与物距无关的定值,测量时被测光学系统位于直物镜和镜之间。
  • 一种焦距测量仪
  • [发明专利]全息差动超长焦距测量方法与装置-CN201010173346.3无效
  • 赵维谦;杨佳苗;孙若端;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2010-05-10 - 2010-10-06 - G01M11/02
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种多全息差动超长焦距测量方法与装置。该方法先利用差动系统对多全息透镜的长焦距值进行校准,减小测量的系统误差;然后利用差动响应曲线过零点时被测超长焦距透镜焦点与多全息透镜一阶焦点相重合的特性,实现对超长焦距透镜焦距的测量。装置包括点光源、第一分光镜、直透镜、多全息透镜和差动系统;其中第一分光镜、直透镜和多全息透镜依次放在光线的出射方向,差动系统放置在第一分光镜的反射方向,多全息透镜和第一分光镜将光束反射至差动系统,并配合差动系统实现对由被测超长焦距透镜出射的差动光锥顶点的精确定位。
  • 全息差动超长焦距测量方法装置

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