专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]摄像单元及测定装置-CN202180013797.7在审
  • 中村共则 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-01-04 - 2022-09-20 - G01J3/36
  • 测定装置具备:倾斜分色镜,其将来自样品的对应于波长透过或反射而予以分离,且透过及反射对应于波长的变化而变化的波长频带的宽度、即边缘跃迁宽度具有规定的宽度;全反射镜,其将在倾斜分色镜被透过或反射的的一方予以反射;摄像元件,其由第1摄像区域对在倾斜分色镜被透过或反射的的另一方进行摄像,且由与第1摄像区域不同的第2摄像区域对在全反射镜被反射的进行摄像;及控制装置,其基于倾斜分色镜中的透过及反射相对于波长的变化所涉及的光学特性
  • 摄像单元测定装置
  • [发明专利]发光装置-CN201210065359.8有效
  • 内藤胜之 - 株式会社东芝
  • 2012-03-13 - 2012-09-26 - H01L51/52
  • 所述装置(WM)的对应于第一区域的第一部分(A1)使在可见光范围内具有特定波长的以第一透过透过。所述装置(WM)的对应于第二区域的第二部分(A2)使所述发光部发光并且使具有所述波长的以低于第一透过的第二透过透过。所述装置(WM)的对应于第三区域的第三部分(A3)被构造成具有透过在第一透过至第二透过的范围内从第一部分侧的端部到第二部分侧的端部降低的透过分布。
  • 发光装置
  • [发明专利]基于光学传递函数的X高分辨成像方法-CN201910671211.0有效
  • 袁园;陈辉 - 成都仲伯科技有限公司;袁园;陈辉
  • 2019-07-24 - 2022-09-09 - G03B42/02
  • 本发明涉及X成像探测技术领域,公开了基于光学传递函数的X高分辨成像方法,包括步骤:S1:利用X光源透过入射小孔照射到待成像的物体上;S2:采用散射介质散射透过物体的X,散射后的X透过出射光阑在探测面上形成不均匀的光强分布,X相机记录光强分布;S3:移动物体,让透过入射小孔的X光轮流照射到物体的各个部分,同时X相机记录下每个部分被照射时在探测面形成的光强分布;S4:在满足深条件的散射下,根据光强分布采用光学传递函数的相位描述出衍射极限分辨的成像本发明实现了X的高分辨成像,可达衍射极限分辨
  • 基于光学传递函数高分辨率成像方法
  • [发明专利]一种光学元件透过的测量方法及装置-CN201210524943.5有效
  • 周翊;宋兴亮;范元媛;沙鹏飞;赵江山;李慧;鲍洋;张立佳;崔惠绒;王宇 - 中国科学院光电研究院
  • 2012-12-07 - 2013-04-03 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种光学元件透过测量方法和相应的装置。其中方法包括:将特定波长的激光光束进行分束,得到两束激光,使之分别通过一个参考路和一个测量路;在测量路上不放置光学元件,测量得到通过参考路的激光光束的能量E1,通过测量路的激光能量为E2;在测量路上放置元学元件,测量得到通过参考路的激光光束的能量E1’,通过测量路的激光能量为E3;根据公式T=E1E3/E1’E2计算该光学元件的透过T。本发明的测量方法和装置采用双路等光程测量,达到了实时在线测量的目的,能够有效地消除光源能量抖动对测量结果的重复性以及对高透过镜片透过测定的影响,能够对用于任何紫外脉冲激光器的光学元件透过实现精确且方便的测量
  • 一种光学元件透过测量方法装置
  • [发明专利]透过分布的检测方法、装置、设备及存储介质-CN202211402876.X有效
  • 汪伟;郭汝海;李宣令;毕海 - 季华实验室
  • 2022-11-10 - 2023-03-14 - G01N21/59
  • 本发明公开了一种透过分布的检测方法、装置、设备及存储介质,涉及光学测量领域,该方法包括:通过光源部件发出入射光照射至待测样品处,产生透射,以使透射进入探测部件;获取预设的透过测试策略,根据透过测试策略分别控制所述待测样品转动至第一待测角度、所述探测部件转动至第二待测角度,以及所述光源部件转动至第三待测角度;基于探测部件中的探测单元获取透射的样品透射光强信息;根据第一待测角度、第二待测角度、第三待测角度、样品透射光强信息和预设的标准光强信息确定待测样品的透过分布函数本发明采用传递式测量方法,实现了提高衰减器件的透过分布函数检测准确度的技术效果。
  • 透过分布检测方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种显示面板及显示装置-CN202211034246.1在审
  • 蔡雨;柳家娴 - 武汉天马微电子有限公司
  • 2022-08-26 - 2023-01-06 - H10K59/38
  • 发光单元与滤光结构对应设置;滤光结构包括位于第一显示区的第一滤光结构和位于第二显示区的第二滤光结构;第一滤光结构包括第一色阻单元,第二滤光结构包括第二色阻单元;第一色阻单元和第二色阻单元的滤光颜色相同;第一滤光结构的透过大于第二滤光结构的透过可见,将第一滤光结构的透过设置为大于第二滤光结构的透过,进一步提高了第一显示区处的透过,进而提高了第一显示区对应区域处的光采集效果。
  • 一种显示面板显示装置
  • [发明专利]光学镜头-CN202310323107.9在审
  • 王书宪;王佳;陈怀玉 - 诚瑞光学(常州)股份有限公司
  • 2023-03-29 - 2023-06-06 - G02B13/00
  • 本发明提供了一种光学镜头,其包括多个透镜,多个透镜包括超低反射透镜和蓝光截止透镜,其中,蓝光截止透镜满足如下条件:对波长范围为500nm‑600nm的的反射小于等于5%;对波长范围为400nm‑420nm的的反射大于等于30%;对波长范围为500nm‑600nm的透过大于等于90%;透过为50%的点对应的波长范围为400nm‑440nm;所述超低反射透镜满足如下条件:对波长范围为380nm‑720nm的的反射小于等于0.8%;对波长范围为420nm‑680nm的的反射小于等于0.5%;对波长范围为380nm‑720nm的透过大于等于90%;对波长范围为420nm‑680nm的透过大于等于95%。
  • 光学镜头
  • [发明专利]摄像装置以及分光系统-CN201510570408.7有效
  • 安藤贵真;是永继博 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2015-09-09 - 2018-12-07 - H04N5/225
  • 一种摄像装置以及分光系统,摄像装置具备:第1编码元件,具有在从对象物入射的路上二维排列的多个区域;和摄像元件,配置在通过了第1编码元件的路上,多个区域的各个包含第1及第2区域,第1(第2)区域的透过的波长分布在相互不同的第1及第2(第3及第4)波长区域中分别具有极大值,将第1区域的透过的波长分布标准化为第1区域的透过的最大值为1、最小值为0时,第1及第2波长区域中的极大值均为0.5以上,将第2区域的透过的波长分布标准化为第2区域的分光透过的最大值为1、最小值为0时,第3及第4波长区域中的极大值均为0.5以上,第1及第2波长区域中的至少1个与第3及第4波长区域不同。
  • 摄像装置以及分光系统

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