“光辐射信号”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果2098977个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]显示装置及用于显示装置的显示方法-CN201080050513.3无效
发明人：克里斯蒂安·安德烈奥拉;西蒙尼·卡佩勒托;亚历山德罗·富塞尔 -专利权人：欧司朗股份有限公司
申请日： 2010-11-03 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G02B6/00 文献下载
摘要：一种用于显示信号，例如电信号（x）的装置，包括导光装置（18），例如体积散射条，对来自辐射射入点（18a）的光辐射的至少一条传播路径进行限定，沿该路径传播的光辐射由于漫射并在导光装置之外可见而有所衰减。还设有至少一个光辐射源（16），例如LED，用于产生光辐射，所述光辐射的强度是要显示的信号的函数。所述光辐射源（16）与前述射入点（18a）耦合，以将光辐射源产生的光辐射射入到所述导光装置（18）内。
显示装置用于显示方法

[发明专利]检测光学元件运行条件的方法、执行该方法的系统及设有该系统的激光处理机械-CN202011062186.5在审
发明人：毛里齐奥·斯贝蒂;达维德·甘多尔菲;马蒂亚·瓦宁 -专利权人：艾迪奇股份公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：用于检测激光处理材料的机械的处理头(14)中沿着功率激光束(B)的传播光路布置的至少一个光学元件(16)的运行条件的方法和系统，包括以下步骤：a)获取指示以激光束(B)的波长与光路同轴反向传播的光辐射的信号；b)获取指示以近红外的波长与光路同轴反向传播的光辐射的信号；c)获取指示由光学元件(16)发射的红外光辐射的信号；d)获取随声波射过光学元件(16)体积的渡越时间变化的信号或数据；e)计算红外光辐射的归一化信号；f)计算真实红外光辐射信号；以及g)根据真实红外光辐射信号、指示以近红外波长反向传播的光辐射的信号和指示以激光束(B)的波长反向传播的光辐射的信号，计算指示光学元件(16)的运行条件的信号。
检测光学元件运行条件方法执行系统设有激光处理机械

[发明专利]一种光辐射对人眼损伤的监测方法-CN201710028488.2有效
发明人：万霞 -专利权人：杭州紫元科技有限公司
申请日： 2017-01-16 - 公布日： 2018-08-31 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种光辐射对人眼损伤的监测方法，包括步骤：S1：通过紫外线、蓝光传感器实时获取紫外线、蓝光辐射强度并分别输出第一电流信号、第二电流信号；S2：通过信号处理模块处理第一电流信号、第二电流信号，得到第一数字信号和第二数字信号；S3：根据第一数字信号、第二数字信号，通过微控制器计算得到紫外线辐射关键参数、蓝光辐射关键参数；S4：通过微控制器判断紫外线辐射关键参数、蓝光辐射关键参数分别是否超过紫外线辐射损伤预设阈值、蓝光辐射损伤预设阈值。本发明进一步公开了一种光辐射对人眼损伤的监测装置，通过该方法能够精确监测到紫外线、蓝光对眼部的辐射强度，在辐射强度超过预设阈值时，能够及时提醒用户采取保护措施。
一种光辐射损伤监测方法装置

[发明专利]一种光辐射传感器角度响应特性测试装置-CN201911044448.2有效
发明人：庞黎;郑峰;顾平月;崇伟;彭滨 -专利权人：航天新气象科技有限公司
申请日： 2019-10-30 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光辐射传感器角度响应特性测试装置，包括：单色光束输出系统、光辐射传感器、位置探测器、采集控制器、驱动模块、供电电源，单色光束输出系统用于输出均匀准直的单色光束；光辐射传感器接收单色光束，产生光响应信号；位置探测器检测光辐射传感器的位置，产生位置信号；驱动模块驱动光辐射传感器及位置探测器进行多角度转动；采集控制器采集所述光响应信号及位置信号，并根据光响应信号及位置信号生成光辐射传感器角度响应特性测试结果；供电电源用于为光辐射传感器、位置探测器、采集控制器及驱动模块提供电源。
一种光辐射传感器角度响应特性测试装置

[发明专利]双发射机跟踪器-CN201080066097.6有效
发明人： M·诺登菲尔特 -专利权人：特林布尔公司
申请日： 2010-02-11 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01C15/00 文献下载
摘要：每个光传感器适于产生与照射在该光传感器上的经反射的光辐射的强度对应的信号。该跟踪器单元包括第一光辐射源和至少一个第二光辐射源。每个第一光辐射源和第二光辐射源被布置在该仪器机体内且被配置为当开动时发射光辐射。第一光辐射源相对于所述多个光传感器中的至少一些光传感器同轴布置，所述至少一个第二光辐射源相对于第一光辐射源偏心布置。使得所述多个光传感器：在第一光辐射源开动且所述至少一个第二光辐射源关停的时期内产生至少一组第一组信号，并在所述至少一个第二光辐射源开动且第一光辐射源关停的时期内产生至少一组第二组信号。根据分别基于第一组信号和第二组信号得出的信息之间的比较，将至少一个具体目标与该测量仪器附近的其他目标和/或其他反射性对象区分开。
发射机跟踪

[发明专利]用于确定硬币筒的装填高度的装置-CN201680017490.3在审
发明人： T·施耐德 -专利权人：克兰支付革新有限公司
申请日： 2016-02-29 - 公布日： 2017-12-01 - 主分类号： G07D5/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于确定至少一个能装填硬币的硬币筒的装填高度的装置，所述装置包括至少一个光辐射发射器，光辐射发射器相对于所述至少一个硬币筒设置在确定的位置处，使得由光辐射发射器发出的光辐射命中装填到所述至少一个硬币筒中的硬币并且由装填到所述至少一个硬币筒中的硬币反射，还包括至少一个光辐射接收器，所述光辐射接收器相对于所述至少一个硬币筒设置在确定的位置处，使得由所述至少一个光辐射发射器发出的并由装填到所述至少一个硬币筒中的硬币反射的光辐射由所述至少一个光辐射接收器作为测量信号接收，并且所述装置包括控制及评估装置，所述控制及评估装置与所述至少一个光辐射发射器和所述至少一个光辐射接收器连接并且构造成，用于操控与所述至少一个光辐射发射器发出光辐射，以及用于根据发出光辐射与所述至少一个光辐射接收器接收到相应的测量信号之间的时长来确定所述至少一个硬币筒用硬币实现的装填高度
用于确定硬币装填高度装置

[发明专利]光学记录和重现设备、方法以及光学头和歪斜检测方法-CN200610079162.4无效
发明人：齐藤公博;石本努 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2006-05-12 - 公布日： 2006-11-15 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：一种光学记录和重现设备，用于通过使来自光源的光作为来自近场光辐射单元的近场光辐射至光学记录介质来记录和/或重现光学记录介质，其包括：用于发射光的光源；用于使来自所述光源的光作为近场光辐射至光学记录介质的近场光辐射单元；用于接收和检测来自所述光学记录介质的回射光的第一光接收单元；用于接收和检测来自所述近场光辐射单元的回射光的第二光接收单元；控制单元，其基于从所述第二光接收单元的被分开的检测信号产生的多个间隙检测信号，检测所述光学记录介质和所述近场光辐射单元之间的相对歪斜；驱动控制单元，其用于响应于所述控制单元中检测的歪斜，输出驱动信号以校正至少所述近场光辐射单元的歪斜。
光学记录重现设备方法以及歪斜检测

[发明专利]用于水下光学中继器的光纤泵浦激光器系统和方法-CN201980087507.6在审
发明人：埃卡塔里娜·戈洛夫琴科;克里斯蒂亚诺·莫纳塔;小斯蒂芬·G·伊万杰琳;塞尔吉奥·沃尔特·格拉西 -专利权人： IPG光子公司
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： H04B10/291 文献下载
摘要：该光学通信系统可以包括：第一光纤泵浦激光器系统，具有被配置为输出第一泵浦激光辐射的第一单模(SM)光纤输出端；第二光纤泵浦激光器系统，具有被配置为输出第二泵浦激光辐射的第二SM光纤输出端；至少一个合束器‑分束器元件，被配置为将第一泵浦激光辐射和第二泵浦激光辐射合束，并且传输N个部分的泵浦激光辐射；以及N个掺杂光纤放大器，其中N至少为四，每个掺杂光纤放大器被配置为接收N个部分的泵浦激光辐射中的一个部分的泵浦激光辐射和要放大的输入光学信号，将输入光学信号放大为经放大的光学信号，并且传输经该放大的光学信号。
用于水下光学中继光纤激光器系统方法

[实用新型]光强可调的激光焊接质量在线检测装置-CN201920823152.X有效
发明人：黎德源;李正文;谢品;胡崇源;白天翔 -专利权人：广州德擎光学科技有限公司
申请日： 2019-05-31 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光强可调的激光焊接质量在线检测装置，包括激光加工头、合束镜、若干个分光元件和光辐射信号检测模块，所述合束镜与激光加工头的主光路形成45°夹角，合束镜与若干个分光元件平行放置，激光加工头的反射光通过合束镜反射给分光元件，再通过分光元件反射进入光辐射信号检测模块；在合束镜与光辐射信号检测模块之间的光路上设置有光强调节器。本实用新型能够通过调节入射到光辐射信号检测模块的光强，使光辐射信号检测模块接收的信号强度在正常工作范围内，使本检测装置能适应多种复杂加工工况与设备。
可调激光焊接质量在线检测装置

[发明专利]激光探测和警告系统-CN201410004909.4有效
发明人： D·R·琼沃思 -专利权人：波音公司
申请日： 2014-01-06 - 公布日： 2014-07-09 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：一种激光探测和警告系统及其相关方法，所述方法向飞行器的驾驶员警告入射的激光辐射并确定激光辐射源的位置，该系统包括配置为安装在飞行器上的探测器，探测器具有光学子系统、探测器子系统和处理器子系统以确定入射的激光辐射的特性并传输激光警告输出信号，其中该激光警告输出信号可以包括激光辐射的波长特性、相应的护目镜类型和激光辐射源的位置。
激光探测警告系统

[发明专利]激光加工件熔深检测方法、装置和系统-CN202011397637.0有效
发明人：白天翔;李正文;胡崇源;李智华;刘文杰;李静娴;游德勇;李文彦 -专利权人：广州德擎光学科技有限公司
申请日： 2020-12-04 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种激光加工件熔深检测方法、装置和系统，通过接收激光加工路径中至少一个加工点的光辐射信号，该光辐射信号包括：红外辐射信号、可见光辐射信号、加工激光反射信号中的一种或多种；通过光电传感器将所述接收到光辐射信号进行光电转换成电信号；根据激光加工点的实际熔深值，建立激光加工点熔深值与所述电信号的对应关系；根据所述对应关系生成用于激光加工点熔深检测的表征数据。本申请实施例通过使用加工点加工时辐射出的光信号进行光电转换后检测，使用的硬件简单有效，降低了检测成本，减少了熔深检测设备结构的复杂度。
激光工件检测方法装置系统

[发明专利]紫外光辐射照度自动测量装置-CN201310252989.0在审
发明人：翁铭廷;谢军 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
申请日： 2013-06-24 - 公布日： 2013-12-11 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明提供了一种紫外光辐射照度自动测量装置，包括紫外光探测模块和控制模块，所述紫外光探测模块用于测量紫外光的辐射照度；所述紫外光辐射照度自动测量装置还包括驱动模块，其中，所述控制模块，用于向所述驱动模块发出驱动信号，并预先设定紫外光辐射区域中的至少一任意点为测量点；所述驱动模块，用于根据该驱动信号驱动所述紫外光探测模块在紫外光辐射区域内运动，以使得所述紫外光探测模块在预先设定的测量点测量紫外光的辐射照度。本发明所述的紫外光辐射照度自动测量装置可以自动控制紫外光探测模块在紫外光辐射区域内的任意点测量紫外光的辐射照度，不对测量点数进行限制，而且测量点可以任意选取，并可覆盖整个紫外光辐射区域。
紫外光辐射照度自动测量装置

[发明专利]用于材料的工业加工的装置和方法-CN201780008822.6有效
发明人： M·K·杜尔金 -专利权人：司浦爱激光技术英国有限公司
申请日： 2017-01-27 - 公布日： 2020-05-29 - 主分类号： H01S3/00 文献下载
摘要：用于材料的工业加工的装置，该装置包括：激光器(1)、波束递送系统(91)、以及输出端口(92)，其中：波束递送系统(91)包括光学隔离器(8)和光纤(2)；激光器(1)由峰值功率(21)定义；激光器(1)发射处于信号波长(19)的激光辐射(13)；激光辐射(13)经由波束递送系统(91)从激光器(1)耦合到输出端口(92)；并且光纤(2)包括由芯(101)、包覆层(102)、信号波长(19)处的模场面积(104)、长度(86)、以及拉曼(Raman)波长(25)定义的光学波导(100)；并且该装置的特征在于：拉曼波长(25)长于信号波长(19)；波束递送系统(91)使信号波长(19)处的激光辐射(13)衰减，以使得由激光器(1)发射的激光辐射(13)的功率大于输出端口(92)处的激光辐射(13)的功率；该装置不包括用于在激光辐射(13)沿光纤(2)传播时泵浦信号波长(19)处的激光辐射(13)的泵；光学隔离器(8)在信号波长
用于材料工业加工装置方法

[发明专利]电子灯识别系统-CN200680014326.3有效
发明人： O·马斯滕布罗克;K·J·卢洛夫斯 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2006-04-20 - 公布日： 2008-04-23 - 主分类号： H05B41/36 文献下载
摘要：一种用于光辐射源(103)的识别系统，具有一个控制电路(107)，用于与光辐射源相关联的识别电路(108)进行通信，其中对于识别电路进行安排以便存储与光辐射源有关的数据。在操作期间，控制电路经一个信号路径与识别电路通信，所说信号路径包括为光辐射源供电而提供的第一电线(112)的至少一部分，所说第一电线的至少一部分用作与识别电路通信的第一发送天线。根据从识别电路检索的数据控制光辐射源的操作。根据识别的结果，可以授权或阻止光辐射源的操作，于是阻止在指定的应用中使用不正确的辐射源。
电子识别系统

[发明专利]确定表面和厚度-CN200780038629.3有效
发明人： H·克拉内 -专利权人：芬兰技术研究中心
申请日： 2007-10-17 - 公布日： 2009-09-09 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：光辐射处理单元(112)以这样的方式将从光源(104)发射的不同波长的光辐射从与被测量的表面(116)的法线(118)不同的方向引导至被测量的物体(114)，使得不同波长聚焦在被测量的表面(116)的法线可能的偏振器(120，122)以垂直于表面(116)的法线(118)的方向偏振反射的光辐射。光辐射处理单元(112)将其从被测量的物体(114)接收的偏振的光辐射引导至检测器(108)。信号处理单元(124)基于检测器(112)提供的信号从检测到的光辐射确定光辐射的强度最高的波长，并通过确定的波长来确定表面(116)的位置。
确定表面厚度

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条