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[发明专利]冷冻机油劣化判定系统、水分混入判定系统、制冷循环装置以及水分残留检查方法-CN201910542525.0有效
发明人：内藤宏治;森隼人;吉田康孝 -专利权人：日立江森自控空调有限公司
申请日： 2019-06-21 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： F25B47/00 文献下载
摘要：光吸收率取得部基于接收部接收到的图像数据取得冷冻机油的光吸收率的数据(S12)。光吸收率存储部依次存储光吸收率取得部定期或者不定期地取得的光吸收率的数据(S13)。第一参照数据存储部存储第一参照数据，该第一参照数据是预先准备的冷冻机油处于正常状态时的光吸收率的范围的数据。第一判断部判断光吸收率存储部中存储的光吸收率的数据是否未超过第一参照数据(S14)。
冷冻机油判定系统水分混入制冷循环装置以及残留检查方法

[发明专利]显示面板和电子设备-CN202111263082.5有效
发明人：张帅 -专利权人：荣耀终端有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： H10K59/50 文献下载
摘要：显示层的出光侧设置有电致变色层，在垂直于显示面板所在平面的方向上，电致变色层与像素区域无交叠；在电致变色层靠近显示层的一侧设置有第一电极层，在电致变色层远离显示层的一侧设置有第二电极层；电致变色层在第一电压差作用下具有第一光吸收特性，在第二电压差作用下具有第二光吸收特性，第一光吸收特性为对可见光具有第一吸收率、对红外光具有第二吸收率，第二光吸收特性为对可见光具有第三吸收率、对红外光具有第四吸收率，第一吸收率大于第三吸收率，第二吸收率小于第四吸收率
显示面板电子设备

[发明专利]一种激光吸收率测量装置及激光吸收率测量方法-CN201811141805.2在审
发明人：郑长彬;李雪雷;邵俊峰;王化龙;陈飞;王挺峰;曹立华 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2018-09-28 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明提供了一种激光吸收率测量装置，包括激光器、光束整形器、第一分束器、第一功率计、第二分束器、第一待测样品、第二功率计、第二待测样品、第三功率计。同时还提供了一种激光吸收率测量方法，同时测量参考功率、热辐射功率和反射功率，通过三者的计算得到吸收功率。本发明提供的激光吸收率测量装置和测量方法，能够准确、方便的测量激光吸收率。
激光吸收率测量装置功率计测量待测样品分束器吸收率光束整形器热辐射功率参考功率测量激光反射功率吸收功率激光器

[发明专利]一种粉末材料超快激光吸收率的测量方法-CN202111290952.8在审
发明人：季凌飞;王昊;张犁天 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2021-11-03 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01N25/48 文献下载
摘要：一种粉末材料超快激光吸收率的测量方法，属于超快激光增材制造领域。本发明首次提出了超快激光吸收率测试所必要的超快激光辐照下粉末材料随温度变化的比热容的测试方法，与超快激光作用下粉末材料的温度变化率与温度的函数关系的分段拟合方法，可以实现超快激光作用下粉末材料吸收率的精确测量该方法适用范围广，测量精度高，适用于各种粉末材料超快激光吸收率的实际测量，填补了粉末材料超快激光吸收率测试的技术空白，为工程实践和科学研究提供宝贵的基础数据。
一种粉末材料激光吸收率测量方法

[发明专利]杂散光吸收装置-CN202110879429.2在审
发明人：卢琳;王林涛 -专利权人：上海波刺自动化科技有限公司
申请日： 2021-08-02 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本发明属于激光切割装置技术领域，公开了一种杂散光吸收装置，包括：固定座，具有内腔，内腔的顶端设有入光孔；杂散光吸收单元，设有吸收腔；和推动单元，驱动杂散光吸收单元在第一位置和第二位置之间运动，杂散光吸收单元在第一位置时，吸收腔的第一端与光源之间形成高杂散光吸收率状态下最小吸收角度，吸收腔的第二端与光源之间形成高杂散光吸收率状态下最大吸收角度；杂散光吸收单元在第二位置时，吸收腔的第一端与光源之间形成低杂散光吸收率状态下最小吸收角度，吸收腔的第二端与光源之间形成低杂散光吸收率状态下最大吸收角度。
散光吸收装置

[发明专利]基于逆法拉第效应的气体传感器-CN202010696146.X在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：西安柯莱特信息科技有限公司
申请日： 2020-07-20 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： G01N27/74 文献下载
摘要：该气体传感器包括：壳体、脉冲激光器、光吸收部和磁场探测装置；脉冲激光器发出的脉冲激光作用在光吸收部上，由逆法拉第效应，产生稳定的磁场，该磁场测量装置用于对光吸收部产生的磁场进行检测，该光吸收部与该脉冲激光器之间的气体的浓度，决定了该脉冲激光器产生的脉冲激光到达光吸收部的量，即当光吸收部与该脉冲激光器之间的气体的浓度发生改变时，该光吸收部的贵金属微纳颗粒溶液的光吸收率发生变化，由于逆法拉第效应的影响，光吸收率的变化会引起其产生的磁场的变化，可以得到光的吸收率，并根据光的吸收率与气体浓度的对应关系，得到待测气体浓度。
基于法拉第效应气体传感器

[实用新型]杂散光吸收装置-CN202121778172.3有效
发明人：卢琳;王林涛 -专利权人：上海波刺自动化科技有限公司
申请日： 2021-08-02 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本实用新型属于激光切割装置技术领域，公开了一种杂散光吸收装置，包括：固定座，具有内腔，内腔的顶端设有入光孔；杂散光吸收单元，设有吸收腔；和推动单元，驱动杂散光吸收单元在第一位置和第二位置之间运动，杂散光吸收单元在第一位置时，吸收腔的第一端与光源之间形成高杂散光吸收率状态下最小吸收角度，吸收腔的第二端与光源之间形成高杂散光吸收率状态下最大吸收角度；杂散光吸收单元在第二位置时，吸收腔的第一端与光源之间形成低杂散光吸收率状态下最小吸收角度，吸收腔的第二端与光源之间形成低杂散光吸收率状态下最大吸收角度。
散光吸收装置

[发明专利]半导体薄膜的制造方法-CN200410028208.0无效
发明人：松本广;森川茂;工藤利雄 -专利权人：卡西欧计算机株式会社;住友重机械工业株式会社
申请日： 2004-03-08 - 公布日： 2004-09-08 - 主分类号： H01L21/20 文献下载
摘要：将非晶硅薄膜的膜厚设定为通过内部的光干涉使激光束的吸收率大致达到峰值的膜厚如62nm，比较试样的非晶薄膜的膜厚设定为45nm，如果照射将Nd：YLF激光束变换成2次高次谐波的Nd：YLF/SGH(脉冲振荡、波长527nm)激光束，用实线表示的本发明试样的光吸收率大于用虚线表示的比较试样的光吸收率28％，达到54％，光吸收率大幅度增加。
半导体薄膜制造方法

[发明专利]一种光吸收镀膜、其制备方法及应用-CN201810575055.3有效
发明人：宋振纶;阿卜杜拉·加法尔·瓦图;丁雪峰;杨丽景;郑必长;姜建军;胡方勤 -专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所
申请日： 2018-06-06 - 公布日： 2020-03-03 - 主分类号： C23C14/06 文献下载
摘要：本申请公开了一种光吸收镀膜，所述光吸收镀膜为钛铝氮镀膜，包括底层和外层；所述底层为纳米层状结构，所述外层为柱状晶结构，所述柱状晶结构顶端为锥形表面；在200nm～2500nm的光波波长范围内，所述光吸收镀膜的平均光吸收率光吸收镀膜外层增加TiAlON或TiO2或SiO2减反层后，光吸收镀膜在200nm～2500nm光波波长范围的平均光吸收率该光吸收镀膜具有光吸收频率范围宽，吸收率高，镀膜物理和化学性能稳定等优势。本申请还公开了其制备方法及应用，该方法原材料成本低，不需要对基体以及镀膜过程做其他特殊处理，工艺简单方便，可实现大面积制备，采用该方法制备的光吸收镀膜结构可控，可以实现在不同材质表面的镀覆。
一种光吸收镀膜制备方法应用

[发明专利]光记录媒体-CN03136516.7无效
发明人：大林元太郎;信正均;薙野邦久;广田草人;网冈孝夫 -专利权人：东丽株式会社
申请日： 1996-03-28 - 公布日： 2004-07-21 - 主分类号： G11B7/24 文献下载
摘要：一种通过非晶相和结晶相之间的相变化来进行信息的记录和抹除，在纹间表面和沟纹两方形成记录符号来进行记录的光记录媒体，其特征在于所述的记录媒体至少具有基板/第1电介质层/记录层/第2电介质层/光吸收层/反射层，其沟纹深度形成重放光波长的1/7以上1/5以下的光路长，并且记录层的非结晶部分和结晶部分的光吸收率由式Aa－Ac≤10％表示，其中Aa表示记录层的非结晶部分的光吸收率(％)，Ac表示记录层的结晶部分的光吸收率
记录媒体

[发明专利]粉末材料激光吸收率的测试方法及其装置-CN201310001877.8有效
发明人：王宏宇;程满;周建忠;孙桂芳;袁晓明;赵玉凤;黎向锋;胥保文;庞婧 -专利权人：江苏大学
申请日： 2013-01-05 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种粉末材料激光吸收率的测试方法及其装置，该测试方法主要包括干燥粉末、清洗传热体即样品台表面并涂覆导热硅脂、铺设待测粉末、测试激光吸收率等步骤，所述装置主要激光器（1），分光镜（2），传热体本发明提出了一种粉末材料激光吸收率的测试方法及其装置，突破了现有激光吸收率仅适用块体材料或其上薄膜的局限性，为推动粉末激光熔覆技术的理论研究发展和工程实践应用奠定基础；同时，该方法及装置具有测试精度高、
粉末材料激光吸收率测试方法及其装置

[发明专利]一种金属材料实际表面激光吸收率数值计算方法-CN202110409407.X在审
发明人：黄婷;李越峥;肖荣诗 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2021-04-16 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种金属材料实际表面激光吸收率数值计算方法，本发明对固有吸收率以Drude模型为基础，考虑实际材料属性随温度变化，并根据具体合金组织结构特征进行修正。基于微观粗糙表面光线多次吸收的原理，统计每条入射光线反射次数，计算每一束入射光线的实际吸收率并取平均，得到实际表面激光吸收率随温度变化曲线。本发明具有较高的普适性，能够准确反映实际表面对激光的吸收率，提高金属激光加工数值模拟准确性，为实际工程和科学研究起到预测和指导作用。
一种金属材料实际表面激光吸收率数值计算方法

[发明专利]树脂薄膜接合体的制造方法-CN201210240670.1无效
发明人：松尾直之;下田麻由;高见伸行 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2012-07-11 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： B29C65/16 文献下载
摘要：本发明提供一种树脂薄膜接合体的制造方法，在该树脂薄膜接合体的制造方法中，将树脂薄膜构件的端面彼此相对，使用光吸收构件，该光吸收构件对所使用的激光的波长的光吸收率高于上述树脂薄膜构件对所使用的激光的波长的光吸收率，该光吸收构件包括在300℃的温度环境下具有稳定性的表面；使上述端面彼此相对的部分与上述表面抵接，向上述光吸收构件照射激光而使上述光吸收构件发热，从而使上述树脂薄膜构件的端面彼此热熔接；自上述光吸收构件剥离上述相对的部分
树脂薄膜接合制造方法

[发明专利]树脂薄膜接合体的制造方法-CN201210240278.7无效
发明人：松尾直之;下田麻由;高见伸行 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2012-07-11 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： B29C65/16 文献下载
摘要：本发明提供一种树脂薄膜接合体的制造方法，在该树脂薄膜接合体的制造方法中，将树脂薄膜构件的端面彼此相对，使用光吸收构件，该光吸收构件对所使用的激光的波长的光吸收率高于上述树脂薄膜构件对所使用的激光的波长的光吸收率，该光吸收构件包括轮廓算术平均偏差（Ra）小于0.5μm的表面；使上述端面彼此相对的部分与上述表面抵接，向上述光吸收构件照射激光而使上述光吸收构件发热，从而使上述树脂薄膜构件的端面彼此热熔接；自上述光吸收构件剥离上述相对的部分
树脂薄膜接合制造方法

[发明专利]一种金属材料对激光的吸收率的标定方法-CN201710619185.8有效
发明人：张小俭;黎昊宇;李文龙;解亚昆;陈丁;马洪啸;丁汉 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2017-07-26 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01N25/48 文献下载
摘要：本发明属于激光预热辅助加工领域，具体涉及一种金属材料对激光的吸收率的标定方法，其包括如下步骤：包括：S1利用热电偶测量工件的测试点在激光照射下温度随时间变化的值；S2建立工件的热源模型，采用该热源模型进行仿真试验，得到测试点在热源模型上对应点的温度随时间变化的值；S3调整输入热源模型的激光吸收率的参数；S4将仿真试验结果分别与实际测量结果进行非线性误差分析，得到的最优结果所对应的激光吸收率参数即为金属材料对激光的吸收率本发明的方法能够得到高精度的标定结果，且过程简单、试验装置易获得、计算量小、不易受到外界因素的干扰，因此，尤其适合金属材料的激光吸收率的测试。
一种金属材料激光吸收率标定方法

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