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- [实用新型]多功能测试板-CN202223303630.5有效
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陈佳荣;陈五四
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深圳宝龙达信息技术股份有限公司
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2022-12-08
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2023-06-06
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G06F11/22
- 本实用新型提出一种多功能测试板,该多功能测试板包括:信号采集模块、信号转换模块和测试接口模块;其中,信号采集模块分别与测试主机以及信号转换模块连接,测试接口模块分别与信号转换模块以及待测试设备连接;信号采集模块,用于接收测试主机输出的初始PCIE信号,并将初始PCIE信号发送至信号转换模块;信号转换模块,用于将初始PCIE信号转换为测试接口模块对应的设备测试信号,并将设备测试信号通过测试接口模块输出至待测试设备对待测试设备进行测试本实用新型提供了一种多功能测试板,使得待测试设备的测试过程可以脱离测试主机,避免主机进行设备测试时引起的主机插槽磨损,延长测试主机的使用寿命。
- 多功能测试
- [发明专利]电子设备的测试系统及测试方法-CN202210707180.1在审
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方冠臻
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杭州涂鸦信息技术有限公司
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2022-06-21
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2022-11-11
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H04B17/00
- 本申请公开了电子设备的测试系统及测试方法。电子设备的测试系统包括信号输出设备、信号接收设备和上位机。信号输出设备用于向标准电子设备组输出正信号和向与标准电子设备组规格相同的待测试电子设备组输出负信号,正信号和负信号相位相反且能级相同。信号接收设备在测试时与标准电子设备组和待测试电子设备组处于相同的测试空间并位于标准电子设备组和待测试电子设备组的中间,用于在标准电子设备组接收到正信号和待测试电子设备组接收到负信号且各自输出无线信号时接收测试空间中的无线信号上位机用于将无线信号与预设无线信号进行比较,以判断待测试电子设备组是否满足测试要求。通过上述方式,能够提高电子设备的测试效率。
- 电子设备测试系统方法
- [发明专利]一种USB测试设备及测试方法-CN202210097184.2在审
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杨茁;都雯卿
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苏州浪潮智能科技有限公司
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2022-01-28
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2022-06-03
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G06F11/22
- 本发明实施例涉及一种USB测试设备及测试方法,包括:信号接收端,获取触发信号,将触发信号通过测试主体结构与第一测试接口传输至第一被测试设备,用以触发第一被测试设备生成第一测试信号;第一测试接口,将第一测试信号经过测试主体结构传输至信号发送端;信号发送端,根据第一测试信号,产生第一响应信号;将第一响应信号传输至显示设备进行展示。工作人员可以根据显示设备上显示的眼图(第一响应信号在显示设备上所显示的图像),来确定第一被测试设备的测试结果。而这里的第一被测试设备包括但不限于USB Type‑C设备,当第一被测试设备为USB Type‑C设备时,第一测试接口为USB Type‑C接口。通过该测试设备,可以实现对USB Type‑C设备的测试。
- 一种usb测试设备方法
- [实用新型]一种晶振芯片的测试系统-CN202220427969.7有效
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邓宏民;罗益
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惠伦晶体(重庆)科技有限公司
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2022-03-01
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2022-08-05
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种晶振芯片的测试系统,包括输入设备、测试设备和输出设备,测试设备分别与输入设备、输出设备连接;输入设备包括用于输入测试指令的输入模块;测试设备包括信号转换模块和芯片测试模块,信号转换模块分别与输入模块、芯片测试模块连接,信号转换模块接收测试指令并将测试指令转换为测试信号,芯片测试模块接收测试信号,芯片测试模块对待测试晶振进行测试,并接收待测试晶振所返回的反馈信号;输出设备,包括处理器,处理器与芯片测试模块连接,处理器接收反馈信号;本实用新型通过在测试系统中设置信号转换模块的方式,解决了现有技术中在特定场景下晶振测试设备不变携带等问题。
- 一种芯片测试系统
- [实用新型]无线终端信号测试装置-CN201922266148.0有效
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陈得民;唐智斌;牛传贝;柳鹏宇
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北京必创科技股份有限公司
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2019-12-17
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2020-07-03
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H04B17/00
- 本实用新型公开了一种无线终端信号测试装置,其中,测控主机与至少两台分析测试设备、信号线路控制模块和测试信号收发模块电连接,信号线路控制模块电连接于至少两台分析测试设备的信号测试端口和测试信号收发模块之间,测控主机控制用于执行信号测试项目的对应分析测试设备执行信号测试项目,并控制信号线路控制模块和测试信号收发模块中的信号线路连接,使得执行信号测试项目的分析测试设备与置于微波暗室内的被测无线终端之间建立测试信号的连接本实用新型利用信号线路控制模块和测试信号收发模块建立了从多台标准和非标准的分析测试设备到微波暗室内的被测无线终端之间的信号链路,实现了多种标准和非标准的无线终端产品的信号测试。
- 无线终端信号测试装置
- [实用新型]射频性能测试电路及装置-CN202220649679.7有效
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胡裕华
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深圳市爱普泰科电子有限公司
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2022-03-24
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2022-09-20
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G01R31/00
- 本申请涉及一种射频性能测试电路,包括测试控制模块、测试信号生成模块及测试切换模块,其中,测试控制模块与多个待测射频设备一一连接,用于根据测试触发信号向待测射频设备发送测试准备指令,以控制待测射频设备进入预设准备状态;及/或根据测试触发信号生成数字搜索指令;测试信号生成模块与测试控制模块连接,用于根据数字搜索指令生成测试载波信号;测试切换模块与测试信号生成模块、测试控制模块及多个射频设备均连接,测试控制模块根据测试触发信号生成开关切换指令,控制测试切换模块动作,使测试信号生成模块与待测射频设备连通,以控制待测射频设备根据测试载波信号发出射频信号,上述测试电路大大节约了等待时间,提高了测试效率。
- 射频性能测试电路装置
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