[发明专利]用来测量辐射的一种设备和一种方法

摘要

一种用来测量来自一个试样载体(6、6I)上提供的试样的低能辐射的方法和设备。试样定位在两个相对对准的盖格－弥勒计数管(11、12)之间的屏蔽空腔(8)中,从而试样辐射或者到达管的两个或者到达管的一个,在后一种情况下另一个管仅用来测量背景辐射。两个管用来测量忽略的重合脉冲。使用一个历史背景辐射值或两个历史背景辐射值、和一个在实际试样测量期间得到的背景辐射值,确定为得到一个试样辐射值要减去的一个背景辐射值。在两个管测量试样辐射的情况下,能提供一个仅用来测量背景辐射的第三盖格－弥勒计数管(13)。

主权项

1．一种用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的低能试样辐射的一种设备(1)，包括：第一和第二辐射检测器(11、12)，用来测量所述辐射和背景辐射，所述第一和第二辐射检测器基本上平行于其彼此在对准位置中面对着的相应活性表面(11a、12a)、以允许平面配置的试样装置(6、6I)临时插入在检测器之间的一个测量空腔(8)中的距离定位；外部屏蔽装置(7)，包围着辐射检测器，所述屏蔽装置(7)减小测量空腔(8)中存在的背景辐射，所述屏蔽装置(7)装有用来接收所述试样装置(6、6I)的一个开口(5)；电子处理装置(50)，用来处理从辐射检测器(11、12)接收的衰减脉冲、由所述脉冲计算源于试样的辐射及估计所述计算的结果；及用来记录和／或显示所述估计结果的装置。