[发明专利]集成电路及该集成电路的测试方法无效
| 申请号： | 98803503.0 | 申请日： | 1998-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN1251183A | 公开（公告）日： | 2000-04-19 |
| 发明（设计）人： | J·诺勒斯;H·H·菲曼 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06K19/07 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 马铁良,张志醒 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一集成电路,它带有一CPU及一用户ROM,其特征在于,测试ROM的地址空间位于用户ROM的地址空间之内,该集成电路还有一CPU外部RAM以及一切换装置,此切换装置使得存取只能针对用户ROM或测试ROM其中之一,而且它可以置位在一不可逆状态,此时只允许存取用户ROM。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.集成电路，带有一CPU、一用户ROM以及一连接它们的总线，其特征在于，测试ROM也与总线相连，其地址空间位于用户ROM的地址空间之内，CPU外部RAM(XRAM)连在总线上，切换装置(MUX)使得存取只能针对用户ROM或测试ROM其中之一。
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