[发明专利]集成电路及该集成电路的测试方法无效
| 申请号： | 98803503.0 | 申请日： | 1998-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN1251183A | 公开（公告）日： | 2000-04-19 |
| 发明（设计）人： | J·诺勒斯;H·H·菲曼 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06K19/07 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 马铁良,张志醒 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 方法 | ||
1.集成电路，带有一CPU、一用户ROM以及一连接它们的总线，其特征在于，
测试ROM也与总线相连，其地址空间位于用户ROM的地址空间之内，CPU外部RAM(XRAM)连在总线上，切换装置(MUX)使得存取只能针对用户ROM或测试ROM其中之一。
2.集成电路，带有一CPU、一用户ROM以及一连接它们的总线，只通过至少一串行输入/输出口(I/O)就可以对它进行存取，而且通过CPU编程控制，由内部串行/并行转换产生输入数据，或者由并行/串行转换产生输出数据，其特征在于，
测试ROM也与总线相连，其地址空间位于用户ROM的地址空间之内，有一CPU外部RAM(XRAM)及切换装置(MUX)，切换装置使得存取只能针对用户ROM或测试ROM其中之一。
3.根据权利要求1或2的集成电路，其特征在于，
切换装置(MUX)可移至一不可逆状态，仅允许存取用户ROM。
4.根据权利要求2或3的集成电路，其特征在于，
串行输入/输出口(I/O)还通过一可活化又可去活化的移位寄存器(SR)同内部总线连接起来，以产生串行/并行转换。
5.根据权利要求4的集成电路，其特征在于，不可逆地实现移位寄存器(SR)的去活化作用。
6.根据权利要求4的集成电路，其特征在于，移位寄存器(SR)由逻辑门(XOR)进行反馈。
7.测试集成电路的方法，该方法含有一CPU、一测试ROM以及一CPU外部RAM，步骤如下：
-通电复位后，实现在测试ROM中的测试启动程序激活，
-由测试启动程序控制测试程序装入RAM，并由CPU从此执行程序，
-测试结束后，删去RAM中的测试程序，实现在测试ROM中的测试启动程序中断执行，且该中断处于不可逆状态。
8.根据权利要求7的方法，其特征在于，测试程序经过一串行输入/输出口(I/O)以及一可接通的串行/并行转换器写入RAM之中。
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