[发明专利]综合型集成电路高温动态老化装置

摘要

本发明涉及一种用于集成电路高温动态老化的装置，包括壳体。壳体内装有高温箱、老化电源、系统电源、老化板、示波器，一个安装有专用老化软件的主控计算机、下位机、信号发生、信号驱动、二级老化电源程控发生装置组成的信号控制电路和信号回检、二级电流检测装置、示波器、显示器组成的信号回检电路，老化信号经老化板编程选通加到试品输入端进行动态老化，回检信号经选通后，分别在示波器、显示器上显示数据、波形，可广泛应用于集成电路生产使用厂、所。

主权项

1、一种综合型集成电路高温动态老化装置，由一个信号控制电路控制至少一个置于高温烘箱⑩环境中的老化板，老化板装载有试品，该信号控制电路具有：一个模拟、数字信号发生装置，该装置①发生并输出集成电路老化所需要的模拟、数字信号，至信号驱动装置②，信号驱动装置②连接老化板③，其特征在于该信号控制电路还具有：一个安装有专用老化软件的主控计算机④，该主控计算机④至通讯接口⑤连接一个由单片机组成的下位机⑥，下位机⑥还连接至少一个模拟、数字信号发生装置①，信号回检和二级电源回检装置⑦连接至少一个二级老化电源⑧，该二级老化电源与特定的老化板对接；所述二级老化电源⑧在接到下位机⑥的输出电压程控信号后，向老化板馈送试品工作电压；所述模拟、数字信号发生装置①接到下位机⑥的信号后编辑成老化数据、图形信号至信号驱动装置②，信号回检和二级电源回检装置⑦和老化板③上的试品连接，该装置⑦分别通过下位机选通阵列开关接示波器⑨，单独显示试品输出端的工作状态；该装置⑦二级电流回检置的输入端和老化板上的二级电源输入端连接，通过下位机⑥接通讯接口⑤，将二级电源测试数据回送到主控计算机。