[发明专利]量度地层密度及地层光电因素的方法和仪器无效

专利信息
申请号: 98104498.0 申请日: 1998-02-19
公开(公告)号: CN1192535A 公开(公告)日: 1998-09-09
发明(设计)人: C·斯托勒;D·C·麦基翁;N·I·威杰西埃凯拉;P·D·赖特;U·达斯古普塔 申请(专利权)人: 施卢默格海外有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 叶恺东,王岳
地址: 巴拿马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明是使用伽马探测器组合决定地层密度和光电因素的改善方法及工具。在本发明中,准直的探测器在地层内有不同的调查深度。在小的间隙中,一个短距(SS)的探测器,主要是调查泥与泥饼,及地层的浅层。与SS不同,中间间距(MS)的探测器,有更深的调查深度,即使间隙加深,对钻孔和地层仍然敏感。一个长间距(LS)的探测器,主要是地层密度敏感;其密度读数,可用MS与SS探测器的间隙资料,予以改正。
搜索关键词: 量度 地层 密度 光电 因素 方法 仪器
【主权项】:
1.一种测定钻孔周围地层的性质仪器,其特征在于,包括:a)可辐照该有γ射线发射地层的源头;b)短、中和长距的探测器,位于该仪器内,与该γ射线发射源头的距离,按序顺序加大。该等探测器有能力产生讯号,指示出每个探测器探测到的γ射线发射能量;c)包括所述γ射线源头和探测器的装置;该装置有能力在不协调的钻孔环境中操作,并保持机械特性;d)据探测器讯号计算地层密度的装置;及e)根据该探测器讯号计算该土地层光电因素的装置。
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