[发明专利]光学拾象装置无效

专利信息
申请号: 96104024.6 申请日: 1996-02-15
公开(公告)号: CN1088884C 公开(公告)日: 2002-08-07
发明(设计)人: 山本健二;前田史贞;市村功;大里洁;渡边俊夫 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/135
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 邹光新,张志醒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种光学拾象装置,能消除因光盘厚度误差所致的球面象差。该装置包括一个凸透镜;一个物镜;一个聚光系统;第一光检测装置,用于产生第一检测信号;第二光检测装置,用于产生第二检测信号;一个位置检测装置,用于根据第一和第二检测信号测定光学记录介质的光入射面与凸透镜的平面间的位置关系;以及一个驱动装置,用于沿其光轴驱动凸透镜,使凸透镜引起按反方向向着光学记录介质或者物镜移动。
搜索关键词: 光学 装置
【主权项】:
1.一种光学拾象装置,用以将光源发射的光会聚在光记录介质上,它包括:一个凸透镜,该凸透镜具有与光学记录介质之光入射面相对的平面,并有预定折射率;一个物镜,被布置得使所述凸透镜被插在所述光学记录介质与该物镜之间;一个聚光系统,用于会聚自光学记录介质的光入射面和所述凸透镜的平面反射的光;第一光检测装置,用于检测自所述光学记录介质的光入射面反射并通过所述聚光系统的光,并产生第一检测信号;其特征在于所述光学拾象装置还包括:第二光检测装置,用于检测自所述凸透镜的平面反射并通过所述聚光系统的光,并产生第二检测信号;一个位置检测装置,用于根据所述第一和第二检测信号测定所述光学记录介质的光入射面与所述凸透镜的平面间的位置关系;以及一个驱动装置,用于沿着凸透镜的光轴驱动所述凸透镜,使所述凸透镜向着所述光学记录介质或者所述物镜移动,从而对应于所述第一和第二检测信号控制所述光学记录介质的光入射面与所述凸透镜的平面间的距离。
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