[实用新型]可更换测试接头的测试装置无效
| 申请号： | 94201845.1 | 申请日： | 1994-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN2183553Y | 公开（公告）日： | 1994-11-23 |
| 发明（设计）人： | 刘英彰;张永龙 | 申请（专利权）人： | 博计电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种可更换测试接头的测试装置，该装置包括数个经过设计并可更换的测试接头模组，其正面具有测试插座，与待测物测试接头接合，其背面具有排针用于插接在测试仪器的排针座内；该模组上具有多个螺丝孔，用来供该测试模组固定在测试仪器上，该测试仪器可以依不同的待测接头需求而选择适当的测试模组，并将该测试模组装设到测试装置预先保留的连接插座上，将该模组固定在测试装置上。 | ||
| 搜索关键词： | 更换 测试 接头 装置 | ||
【主权项】：
1、一种可更换测试接头的测试装置，其特征在于该装置包括：一测试接头模组，其正面具有测试插座，与待测物测试接头接合，其背面具有排针用于插接在测试仪器的排针座内；该模组上具有多个螺丝孔，用来供该测试模组固定在测试仪器上；一测试接头模组内板，装设在测试仪器面板内，该内板上有一连接排针座，用于连接所述测试模组背面的排针；一固定螺丝组，用于将测试模组固定在测试仪器上，连接待测物与测试装置，并导通其间的高电流。
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