[实用新型]可更换测试接头的测试装置无效
| 申请号： | 94201845.1 | 申请日： | 1994-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN2183553Y | 公开（公告）日： | 1994-11-23 |
| 发明（设计）人： | 刘英彰;张永龙 | 申请（专利权）人： | 博计电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 更换 测试 接头 装置 | ||
【权利要求书】：
1、一种可更换测试接头的测试装置，其特征在于该装置包括：
一测试接头模组，其正面具有测试插座，与待测物测试接头接合，其背面具有排针用于插接在测试仪器的排针座内；该模组上具有多个螺丝孔，用来供该测试模组固定在测试仪器上；
一测试接头模组内板，装设在测试仪器面板内，该内板上有一连接排针座，用于连接所述测试模组背面的排针；
一固定螺丝组，用于将测试模组固定在测试仪器上，连接待测物与测试装置，并导通其间的高电流。
2、根据权利要求1所述的可更换测试接头的测试装置，其特征在于：
所述测试接头模组为具有不同型式测试接头的多块可选择连接的模组。
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