[发明专利]颗粒粒径的直接测量方法和测量装置无效
| 申请号： | 92111272.6 | 申请日： | 1992-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN1084967A | 公开（公告）日： | 1994-04-06 |
| 发明（设计）人： | 李栋;顾雪梅 | 申请（专利权）人： | 上海市测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01B11/08 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 郑立 |
| 地址： | 20023*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种利用光学显微镜对颗粒粒径进行直接测量的测量方法及测量装置，采用步进电机来驱动载物平台和可动分划板的移动，从而可根据使可动分划板上的刻线扫过粒径所需输给步进电机的脉冲数来精确测量和计算颗粒粒径，并且输出的脉冲信号可由微机等装置进行自动计算，同时视场切换精确，极大地减轻了操作人员的劳动强度，使测量速度显著提高，同时保证了测量精度，使直接测量法能够在实际应用中得到充分发挥。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 粒径 直接 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
1、一种用光学显微镜直接测量颗粒粒径的直接测量方法，包括下列步骤：a.将待测颗粒制作成载玻片样本，并将载玻片样本置于显微镜的载物平台上；b.沿横向及纵向移动载物平台进行视场切换；c.沿斜向移动显微镜的可动分划板使此分划板上的刻线扫过所测颗粒的粒径；其特征在于：由步进电机在脉冲信号控制下实现步骤b和c中所述载物平台和可动分划板的移动；该方法还包括步骤d.由下式计算所测颗粒的粒径：D=(Na)/(m)其中：D-粒径N-步骤c中使刻划板上的刻线扫过粒径而给带带动分划板的步进电机输入的脉冲数a-单位脉冲下分划板的位移量m-显微镜的物镜放大倍数。
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