[发明专利]颗粒粒径的直接测量方法和测量装置

权利要求书

1、一种用光学显微镜直接测量颗粒粒径的直接测量方法，包括下列步骤：

a.将待测颗粒制作成载玻片样本，并将载玻片样本置于显微镜的载物平台上；

b.沿横向及纵向移动载物平台进行视场切换；

c.沿斜向移动显微镜的可动分划板使此分划板上的刻线扫过所测颗粒的粒径；

其特征在于：

由步进电机在脉冲信号控制下实现步骤b和c中所述载物平台和可动分划板的移动；该方法还包括步骤

d.由下式计算所测颗粒的粒径：

D= (Na)/(m)

其中：D-粒径

N-步骤c中使刻划板上的刻线扫过粒径而给带带动分划板的步进电机输入的脉冲数

a-单位脉冲下分划板的位移量

m-显微镜的物镜放大倍数。

2、如权利要求1所述的直接测量方法，其特征在于，所述的各步进电机通过由丝杆或齿条分别带动所述的载物平台和可动分划板进行移动。

3、如权利要求1或2所述的直接测量方法，其特征在于，所述的脉冲信号由一微机输入给步进电机，并由该微机记录脉冲数N并进行步骤d的粒径计算。

4、如权利要求1或2所述的直接测量方法，其特征在于，所述的脉冲信号由一单片机输入给步进电机。

5、如权利要求1或2所述的直接测量方法，其特征在于，所述的脉冲信号由一数字电路装置输入给步进电机。

6、一种根据权利要求1所述的方法直接测量颗粒粒径的测量装置，包括一光学显微镜，该光学显微镜由照明部分、载物平台、光学放大部分以及包括固定分划板和可动分划板的粒径测量部分组成，其特征在于：

还包括两个分别驱动载物平台进行横向和纵向移动的步进电机和一个驱动可动分划板进行斜向移动的步进电机，所述各步进电机分别通过各自的传动机构与载物平台及可动分划板连接;还包括一向各步进电机输入脉冲信号的装置。

7、如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述的传动机构包括一丝杆或齿条。

8、如权利要求6或7所述的测量装置，其特征在于，所述脉冲信号输入装置为一微机，该微机还记录脉冲数并进行粒径计算。

9、如权利要求6或7所述的测量装置，其特征在于，所述脉冲信号输入装置为一单片机。

10、如权利要求6或7所述的测量装置，其特征在于，所述脉冲信号输入装置为一数字电路装置。