[其他]π尺精度的模拟圆检测方法及装置无效

专利信息
申请号: 86106636 申请日: 1986-09-22
公开(公告)号: CN86106636A 公开(公告)日: 1987-04-29
发明(设计)人: 于若愚;李延增;于洪珍;关成义 申请(专利权)人: 沈阳市工具研究所
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/08
代理公司: 沈阳市专利事务所 代理人: 张宪恩
地址: 辽宁省沈阳市*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明提供了一种简单易行的检测π尺精度的方法和装置——模拟圆检测方法和装置。本发明的特点是将被测π尺展开成直线状态,与标尺重叠在一起进行比较,并模拟在圆上的读数方法,检测出π尺的任意示值,代替了标准圆检测π尺精度的方法。在常温下,达到高精度检测的目的。模拟圆检测π尺的装置结构简单,使用方便,成本低,精度高。
搜索关键词: 精度 模拟 检测 方法 装置
【主权项】:
1、一种常温下检测π尺精度的方法,其特征在于:a.将π尺[5]在长度方向上展开成直线,与一标尺[4]重叠比照,从标尺[4]上读出数值,来检测任意π尺任意示值的误差;b.标尺[4]检测π尺[5]的读数方法采用π尺检测工件的读数方法;c.在检测时,标尺[4]和被测π尺[5]各挂一个重锤[6]、[8],保持与实际检测时等效的拉力。
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