[其他]π尺精度的模拟圆检测方法及装置无效

专利信息
申请号: 86106636 申请日: 1986-09-22
公开(公告)号: CN86106636A 公开(公告)日: 1987-04-29
发明(设计)人: 于若愚;李延增;于洪珍;关成义 申请(专利权)人: 沈阳市工具研究所
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/08
代理公司: 沈阳市专利事务所 代理人: 张宪恩
地址: 辽宁省沈阳市*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 精度 模拟 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1、一种常温下检测π尺精度的方法,其特征在于:

a.将π尺[5]在长度方向上展开成直线,与一标尺[4]重叠比照,从标尺[4]上读出数值,来检测任意π尺任意示值的误差;

b.标尺[4]检测π尺[5]的读数方法采用π尺检测工件的读数方法;

c.在检测时,标尺[4]和被测π尺[5]各挂一个重锤[6]、[8],保持与实际检测时等效的拉力。

2、一种检测π尺〔5〕的装置,其特征在于:它由缠绕标尺的标尺储盘〔1〕、牵引并可调整被测π尺位置的微调卡头〔7〕检测π尺精度的标尺〔4〕、铺设标尺、被测π尺的轨道平台〔3〕、牵引标尺的重锤〔6〕和支撑滑轨平台的立柱〔2〕组成。

3、根据权利要求2所述的装置,其特征在于:标尺〔4〕上有一个副尺段〔12〕和若干个主尺段〔11〕,标尺〔4〕主尺与π尺〔5〕主尺的刻度相同,标尺〔4〕的副尺与π尺〔5〕的副尺的刻度相同,标尺〔4〕的主尺段〔11〕位于标尺左侧,副尺段〔12〕位于标尺的右侧,标尺〔4〕各主段的第一条线纹到副尺段〔12〕的第一条线纹的距离为(D+δ)π。

4、根据权利要求2或3所述的装置,其特征在于标尺〔4〕与被测π尺〔5〕采用相同材料制成。

5、根据权利要求2或3所述的装置,其特征在于牵引标尺〔4〕和被测π尺〔5〕的重锤〔6〕、〔8〕重15.6牛顿。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳市工具研究所,未经沈阳市工具研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/86106636/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top