[其他]π尺精度的模拟圆检测方法及装置无效
| 申请号: | 86106636 | 申请日: | 1986-09-22 |
| 公开(公告)号: | CN86106636A | 公开(公告)日: | 1987-04-29 |
| 发明(设计)人: | 于若愚;李延增;于洪珍;关成义 | 申请(专利权)人: | 沈阳市工具研究所 |
| 主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/08 |
| 代理公司: | 沈阳市专利事务所 | 代理人: | 张宪恩 |
| 地址: | 辽宁省沈阳市*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 精度 模拟 检测 方法 装置 | ||
1、一种常温下检测π尺精度的方法,其特征在于:
a.将π尺[5]在长度方向上展开成直线,与一标尺[4]重叠比照,从标尺[4]上读出数值,来检测任意π尺任意示值的误差;
b.标尺[4]检测π尺[5]的读数方法采用π尺检测工件的读数方法;
c.在检测时,标尺[4]和被测π尺[5]各挂一个重锤[6]、[8],保持与实际检测时等效的拉力。
2、一种检测π尺〔5〕的装置,其特征在于:它由缠绕标尺的标尺储盘〔1〕、牵引并可调整被测π尺位置的微调卡头〔7〕检测π尺精度的标尺〔4〕、铺设标尺、被测π尺的轨道平台〔3〕、牵引标尺的重锤〔6〕和支撑滑轨平台的立柱〔2〕组成。
3、根据权利要求2所述的装置,其特征在于:标尺〔4〕上有一个副尺段〔12〕和若干个主尺段〔11〕,标尺〔4〕主尺与π尺〔5〕主尺的刻度相同,标尺〔4〕的副尺与π尺〔5〕的副尺的刻度相同,标尺〔4〕的主尺段〔11〕位于标尺左侧,副尺段〔12〕位于标尺的右侧,标尺〔4〕各主段的第一条线纹到副尺段〔12〕的第一条线纹的距离为(D+δ)π。
4、根据权利要求2或3所述的装置,其特征在于标尺〔4〕与被测π尺〔5〕采用相同材料制成。
5、根据权利要求2或3所述的装置,其特征在于牵引标尺〔4〕和被测π尺〔5〕的重锤〔6〕、〔8〕重15.6牛顿。
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