[其他]狭缝X射线照像装置无效

专利信息
申请号: 85106558 申请日: 1985-08-31
公开(公告)号: CN85106558A 公开(公告)日: 1987-03-18
发明(设计)人: 西蒙·杜英克;雨果·夫拉斯布劳姆 申请(专利权)人: 老代尔夫特光学工业有限公司
主分类号: G03B42/02 分类号: G03B42/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 张卫民
地址: 荷兰代尔夫特*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明包括经狭缝阑对受射物体用基本为平面扇形的X线来进行扫描的X线源,穿过物体的X线束照射到X线检测器上本装置包括与光阑协同动作的多个可控衰减元件,每一元件能在辐射检测装置产生的信号控制下影响X线束的一部分。辐射检测装置位于受射物和X线检测器之间,其中包括至少一个始终伸入穿过物体的X线束中并与其扫描运动同步动作的辐射检测器。该检测器分成多个部分以与衰减元件影响的X线束各部分对应,工作时每部分产生控制衰减元件的信号。
搜索关键词: 狭缝 射线 装置
【主权项】:
1、一种狭缝X射线照像装置,包括一个X射线源,利用该X射线源可以使通过一个狭缝光阑的一束基本上为平面扇形的X射线对一个接受辐射的物体进行扫描,穿过该物体的扫描X射线束照射到一个X射线检测器上,其特征在于:该装置包括与狭缝光阑协同动作的多个可控衰减元件,每一元件在由一个辐射检测装置产生的信号的控制下被用于影响扫描X射线束的一个部份;该辐射检测装置被安置在接受辐射的物体和X射线检测器之间;该辐射检测装置包括至少一个辐射检测器,该辐射检测器在任何时刻都探伸到穿过物体的扫描X射线束之中并与X射线束的扫描运动进行同步运动,该辐射检测装置被分隔为多个部份,以便对应于可受衰减元件影响的扫描X射线束的各个部份,同时,在工作时,该辐射检测装置的每一部分都产生一个可用于控制衰减元件的信号。
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