[其他]狭缝X射线照像装置

说明书

本发明涉及一种用于狭缝X射线照象的装置，其中包括一个X射线源，利用该X射线源可将一个基本上平面的扇形X射线束通过一个狭缝光阑对接受辐射的物体进行扫描，同时通过该物体的扫描X射线束照射在一个X线检测器上。

在共同未决（copending）的荷兰专利申请8400845号中对这种包括与狭缝光阑协同工作的可控衰减元件的装置进行了描述，该专利申请在此引用做为参考。荷兰专利申请8400845号中说明了产生衰减元件所需控制信号的几种方法。荷兰专利申请8400845号中所说明的大多数情况下，为了达到这一目的，使用了一系列安置在所采用的X线检测装置出口一侧的光线检测器，每一光线检测器与狭缝光阑的一个部份相对应，并且通过控制装置控制该部份与衰减元件的协同动作，或者是控制该部份与一组衰减元件协同动作。

然而，在利用不透光的X线胶片暗盒作为X射线检测器时，不能以一种简单的方式来应用这种技术。

因此，本发明的一个目的是设计一种狭缝X射线照像装置，其中包括与一个狭缝光阑协同工作的可控衰减元件，其协同方式为，即使采用了不透光的X射线胶片暗盒，仍可用一种相对简单并且可靠的方式获得衰减元件所需的控制信号。

为了达到这一效果，根据本发明，上述类型装置的特征在于;包括与狭缝光阑协同动作的多个可控衰减元件，每个元件被用于在由辐射检测装置所产生的信号的控制之下，对X射线扫描束的一个部份施加影响;该辐射检测装置被置于接受辐射的物体与X射线探测器之间;该辐射检测装置包括至少一个在任何时刻都探伸到穿透物体的扫描X线束之中，并与该X线束的扫描运动同步动作的辐射检测器。该辐射检测装置被分为与可由衰减元件影响的扫描X线束的各节段相对应的部份，工作时，辐射检测器的每一部份产生出一个可用于控制衰减元件的信号。

可以看出，本发明即可用于使用不透光X射线胶片暗盒的情况，也可用于使用任何其它类型X射线探测器的场合。

以下将参照附图，举例对根据本发明的装置的几个实施方案予以说明，在附图中：

图1示意性地示出根据本发明的装置的第一实施方案;

图2示意性地示出图1的一种变化形式;

图3示出图2的另一种变化形式;

图4示出图3的一种修改形式;和

图5示出图4的一种修改形式。

图1示意性地示出本发明的第一实施方案，其中显示了具有X射线焦点2的X射线源1。在工作中，X射线源产生X射线束B，其中基本上为平面扇形的一部份B′几乎都能穿过狭缝光阑3上的狭缝S。另外，图中示出接受辐射的物体4和置于该物体之后的一个X射线检测器5，该检测器5安装在一个未示出的外壳之中。该X射线检测器可以是任何常规类型，但在本实施方案中是由一个不透光的X射线胶片暗盒构成，其中包括一个X射线荧光屏6和置于其后的X射线胶片7。在某些X射线胶片暗盒中，X射线胶片之后还安装了第二个X射线荧光屏。除了这种胶片暗盒，也可采用具有大输入屏幕的静态X射线图象增强管或采用具有窄条式输入屏的X射线图象增强管。在后一种情况中，X射线图象增强管在工作中执行扫描运动。

在所示的情况中，穿过狭缝光阑的X射线束B′仅照射在物体4的一个狭长部份上，这一部份在X射线检测器的输入屏上成象。如数字10所示。为了获得该物体更大部份的图象，X射线束适宜于在图示的平面内进行扫描运动。这可以通过不同的方法得以实现，例如通过使狭缝光阑按箭头8所指的方向运动。这些都不构成本发明的一部份。狭缝光阑与多个可控衰减元件9协同动作。多个衰减元件并行排列并且可按这样的方式安置在一个边上，即，使衰减元件在适当的控制信号的影响下，可以或大或小幅度不同地探伸到通过或将要通过狭缝S的光束B′之中。这样，如荷兰专利申请8400845号中所说明的那样。X射线束可以瞬时地并且局部地被衰减一个较大或较小的程度。可以看出，狭缝光阑的狭缝可处于水平，垂直或中间的位置，而扫描则可以按垂直，水平或中间的方向进行。

应根据穿过物体的X射线的强度来控制衰减元件。为此，根据本发明，使用了设置在接受辐射的物体4和X射线检测器之间的辐射检测装置，该辐射检测装置的安装方式使其在任何时刻都能将穿过物体的辐射检测出来，这种检测可分别针对与衰减元件9相对应的或与一组这种衰减元件相对应的穿过物体的X射线束的每一部份。

根据本发明，为此采用了辐射检测装置，该装置在物体和X射线检测器之间执行扫描运动，而该扫描运动与工作过程中由X射线束B′进行的扫描运动同步。