[其他]模式识别自校正控制器

摘要

本发明提供一种用于过程控制的模式识别自校正控制系统，该系统从过程变量的测量值与设定值之差导出误差信号，并至少包含误差信号的一个峰值，从而识别误差信号的特征，以便当该过程受到干扰或改变设置点时，该控制器能以最短的时间使之恢复到最佳状态。在本发明的优选实施方案中，该控制器是用比例-积分-微分(PID)方式设计的，其P、I、D系数是根据误差信号的阻尼、超调和周期计算出来的。

主权项

1、用于控制系统的一种模式识别型自校正控制装置，其中所述的控制器装置用至少一个工作参数来表示其特性，并且，控制器装置耦合到控制系统的过程中，以便控制过程控制变量的值；上述控制器装置包括：检测器装置，根据上述过程控制变量的闭环特性，测量上述特性的第一和第二特性曲线，其中上述第一特性曲线是上述闭环特性的局部极值的峰值振幅，而上述第二特性是在上述局部极值以后的点上的上述闭环特性的振幅；调节装置，与上述检测器装置相联，以响应第一和第二特性曲线，并根据规定的关系改变上述工作参数，使上述控制器装置的特性基本上与上述的过程的特性相一致。