[其他]模式识别自校正控制器

权利要求书

1、用于控制系统的一种模式识别型自校正控制装置，其中所述的控制器装置用至少一个工作参数来表示其特性，并且，控制器装置耦合到控制系统的过程中，以便控制过程控制变量的值；上述控制器装置包括：

检测器装置，根据上述过程控制变量的闭环特性，测量上述特性的第一和第二特性曲线，其中上述第一特性曲线是上述闭环特性的局部极值的峰值振幅，而上述第二特性是在上述局部极值以后的点上的上述闭环特性的振幅；

调节装置，与上述检测器装置相联，以响应第一和第二特性曲线，并根据规定的关系改变上述工作参数，使上述控制器装置的特性基本上与上述的过程的特性相一致。

2、权利要求1的装置，其中所述规定的关系包括具有期望值的性能判别准则，并且，所述控制器装置还包括：

用于组合所述第一和第二特性曲线的装置，该装置用来产生所述性能判别准则的测量值;

获得所述性能准则的期望值与测量值之差的装置，其中所述的调节和装置根据上述差值改变所述的工作参数。

3、权利要求2的装置，其中所述检测器装置测量上述过程控制变量的闭环特性的第三特性曲线，所述规定关系还包括具有期望值的第二性能判别准则，所述组合装置进一步组合上述第一、第二和第三特性曲线，产生第二性能判别准则的测量值，并且，所述的差装置得到上述第二性能判别准则的期望值与测量值之差，并且，其中所述装置还包括与所述调节装置相耦合的逻辑装置，以选择所述第一性能准则的差值和所述第二性能准则的差值，并根据所述选择改变所述的工作参数。

4、权利要求2的装置，其中所述性能准则是超调率，它正比于所述第一和第二特性曲线。

5、权利要求4的装置，其中所述检测器装置测量所述过程控制变量的闭环特性的第三特性曲线，所述规定关系进一步包括具有期望值的第二性能判别准则，所述组合装置进一步组合所述第一、第二和第三特性曲线，以产生所述第二性能判别准则的测量值，并且，所述差装置进一步得到所述第二性判别能准则的期望值与测量值之差，并且，上述装置还包括耦合到调节装置上的逻辑装置，以选择所述第一性能准则的差值和第二性能准则的差值，使得调节装置根据所述选择以改变所述的工作参数。

6、权利要求5的装置，其中所述第二性能准则是阻尼比，它正比于所述第一、第二和第三特性曲线。

7、权利要求6的装置，其中所述工作参数包括比例（P）系数和积分（I）系数，其中所述装置还包括分别测量第一和第二特性曲线及第一和第三特性曲线之间的时间间隔的装置，并且，该装置根据所述时间间隔以确定代表闭环特性的周期T₀并且其中所述装置根据所述逻辑装置所做出的选择改变所述P系数，并且根据适应比和所述测量周期T₀改变所述I系数。

8、权利要求7的装置，其中所述第一和第二适应比的值是根据预选确定的关系改变的，该预先确定的关系是基于所述周期T₀的值、所述测量的阻尼和超调率以及存在于所述产生正在评价闭环特性的装置中的I系数。

9、权利要求8的装置，其中所述工作参数还包括微分（D）系数，其值根据第二适应比和所述周期T₀而变化。

10、权利要求9的装置，其中所述第一和第二适应比的值是根据预定的关系而变化，该预定关系是基于所述周期T₀值、所述测量的阻尼与超调率和存在于所述产生正在评价闭环特性的装置的I系数。

11、权利要求10的装置，其中所述第一和第二适应比是Ziegler-Nichols比。

12、权利要求10的装置，其中P系数的变化也与根据所述阻尼比的测量值和期望值以及所述闭环特性的前一周期信息所规定的关系有关。

13、权利要求12的装置，其中所述P系数也是根据预定的关系而变化，该预定关系包括所述第一和第二适应比、所述周期T₀、存在于所述产生正在评价闭环特性的装置的I系数和D系数的值。

14、权利要求13的装置，其中所述第一、第二和第三特性曲线只是在第一特性曲线的绝对值大于预定的噪声水平时才进行测量。