[实用新型]一种晶圆片收取工具有效
申请号: | 202320230618.1 | 申请日: | 2023-02-14 |
公开(公告)号: | CN219435847U | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 赖阳军;李志华;寻茁圃 | 申请(专利权)人: | 粤芯半导体技术股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人: | 刘婧 |
地址: | 510700 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提出了一种晶圆片收取工具。本申请的取片器设置有承载部、限位部和手持部,操作人员抓取手持部将承载部伸入晶圆传送盒的报废晶圆片的下方,再抬起以承载该报废晶圆片,限位部凸出于承载部和手持部,可以防止整个取片器伸进晶圆传送盒收取报废晶圆片时上下摆动幅度过大而剐蹭到上方或下方的正常晶圆片导致其报废,操作难度小、风险低。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶圆片 收取 工具 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造