[实用新型]一种测试框架机构

摘要

本实用新型涉及芯片测试相关技术领域，具体是一种测试框架机构，包括框架板，所述框架板两侧设置有活动槽，所述活动槽内设置有活动块，两个活动块间通过设置第二螺纹杆、螺纹套、连接杆等对称设置有两个放置板，两个放置板间的距离可调以对不同形状尺寸的芯片进行放置，框架板一侧外壁设置有第一螺纹杆、第一转把、螺纹块等配合来对第二螺纹杆的高度位置进行调节，进而对放置板和放置板上放置的芯片的高度位置进行调节，使得芯片与测试设备间的距离可调，通过轨道杆与滑轨板配合调节测试设备的水平方向位置，使得测试设备能够灵活方便的调节位置并对芯片进行测试。