[实用新型]一种测试框架机构

说明书

本实用新型涉及芯片测试相关技术领域，具体是一种测试框架机构，包括框架板，所述框架板两侧设置有活动槽，所述活动槽内设置有活动块，两个活动块间通过设置第二螺纹杆、螺纹套、连接杆等对称设置有两个放置板，两个放置板间的距离可调以对不同形状尺寸的芯片进行放置，框架板一侧外壁设置有第一螺纹杆、第一转把、螺纹块等配合来对第二螺纹杆的高度位置进行调节，进而对放置板和放置板上放置的芯片的高度位置进行调节，使得芯片与测试设备间的距离可调，通过轨道杆与滑轨板配合调节测试设备的水平方向位置，使得测试设备能够灵活方便的调节位置并对芯片进行测试。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试相关技术领域，具体是一种测试框架机构。

背景技术

近年来随着电子科技技术的进步，个人计算机、多媒体、工作站、网络、通信相关设备等电子产品的需求量激增，带动整个世界半导体产业蓬勃发展，各种功能的集成电路芯片成为电子产品硬件电路的核心，各厂商对集成电路芯片采购标准也较为严苛，在现行对集成电路芯片需求大增的前提下，供货商除了确保最终测试合格外，还必须能够迅速大量出货。

集成电路芯片生产之后需要对其进行测试以保证其功能性，常见的做法是将待测试的芯片放置在放置台上，再通过手持测试设备或通过支架结构对测试设备进行承载和位置调节并进行测试，测试设备通过光学测试探头对芯片表面的各个电路连接节点进行测试，具有简单易操作的优点，但是在实际使用时依然发现下面问题，常规的放置台只能对单一形状尺寸的芯片进行承载放置，使用灵活性较低，因此需要设计一种能够对多种类型芯片进行承载并方便调节检测设备位置的测试机构来满足使用需求，为此本领域技术人员提出了一种测试框架机构，以解决上述背景中提出的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试框架机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种测试框架机构，包括框架板，所述框架板内腔顶部连接设置有轨道杆，所述轨道杆上安装有滑轨板，所述滑轨板在所述轨道杆上的位置可调，所述滑轨板底端通过安装夹可拆卸安装设置有测试设备，所述框架板两侧均设置有活动槽，所述活动槽内滑动连接设置有活动块，所述框架板一侧外壁通过固定板安装设置有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆顶端连接设置有第一转把，所述第一螺纹杆上螺纹配合连接有螺纹块，所述螺纹块侧壁与其中一个所述活动块的一侧侧壁相连，两个所述活动块位于同一高度位置上，两个所述活动块之间设置有第二螺纹杆，所述第二螺纹杆两端通过轴承套分别与两个所述活动块转动连接，所述第二螺纹杆远离所述第一螺纹杆一端连接有第二转把，所述第二转把置于所述框架板外围，所述第二螺纹杆上对称且螺纹配合连接有两个螺纹套，所述螺纹套顶部外壁与连接杆底端相连，所述连接杆顶端连接有放置板，所述放置板侧端与所述框架板内侧壁滑动贴合。

作为本实用新型再进一步的方案：所述螺纹块的设置宽度大于所述活动槽宽度，所述螺纹块靠近所述第二螺纹杆一侧侧端与所述框架板一侧外侧壁滑动贴合。

作为本实用新型再进一步的方案：所述放置板呈直角状，两个所述放置板关于所述第二螺纹杆对称分布设置，所述放置板内围连接设置有弹性垫。

作为本实用新型再进一步的方案：所述框架板位于所述第二螺纹杆两侧的内壁均设置有矩形槽，所述放置板的侧端连接有定位杆，所述定位杆端部与所述矩形槽内侧壁滑动贴合，所述定位杆的设置长度与所述矩形槽的设置深度一致。

作为本实用新型再进一步的方案：所述活动槽呈长条矩形状，所述活动块为一矩形块，所述活动块的两侧内壁分别与对应的所述活动槽的两侧内壁滑动贴合。