[实用新型]抗磁测试装置有效
| 申请号： | 202320121205.X | 申请日： | 2023-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN218647637U | 公开（公告）日： | 2023-03-17 |
| 发明（设计）人： | 符艳军;钟明琛;单书珊;潘成 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;北京芯可鉴科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G05D23/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例提供一种抗磁测试装置，属于芯片测试技术领域。所述抗磁测试装置包括：温控设备，用于输出预设温度的温控气流，以调节测试环境的温度；导流管，用于导出所述温控气流；热流管，与所述导流管连接，用于容纳被测产品；电磁铁，环绕所述热流管设置，以提供所述抗磁测试需要的磁场；控制台，用于调节所述被测产品在所述热流管中的位置。所述抗磁测试装置解决了现有抗磁测试装置有限空间中提供强磁场环境的电磁铁与温控设备协同工作的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
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