[实用新型]抗磁测试装置

说明书

本实用新型实施例提供一种抗磁测试装置，属于芯片测试技术领域。所述抗磁测试装置包括：温控设备，用于输出预设温度的温控气流，以调节测试环境的温度；导流管，用于导出所述温控气流；热流管，与所述导流管连接，用于容纳被测产品；电磁铁，环绕所述热流管设置，以提供所述抗磁测试需要的磁场；控制台，用于调节所述被测产品在所述热流管中的位置。所述抗磁测试装置解决了现有抗磁测试装置有限空间中提供强磁场环境的电磁铁与温控设备协同工作的问题。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种测试温度可控的抗磁测试装置。

背景技术

磁阻随机存取存储器（MRAM）是一种非易失性存储器技术，它依赖于两个铁磁层的（相对）磁化状态来存储二进制信息。MRAM芯片的抗磁场干扰性能测试需要一种专用的测试系统，除了提供所需的测试磁场外，还需要控制测试环境的温度，以便实现芯片在指定温度下的抗磁性能测试。

现有的抗磁测试装置一般采用电磁铁产生强磁场环境，电磁铁极柱间隙很小，难以放置温控装置；反过来，用于产生磁场环境的电磁铁体积重量比较大，也不适宜于整体放入温控箱进行芯片测试。

本申请发明人在实现本发明的过程中发现，现有技术的方案中用于产生强磁场环境的电磁铁和用于控制环境温度的温控设备难以合理分配空间以实现两者协同工作。

发明内容

本实用新型实施例的目的是提供一种设备，该设备可以灵活控制抗磁测试装置的测试环境温度，解决以上技术问题。

为了实现上述目的，本实用新型的实施例提供一种抗磁测试装置，该装置包括：

温控设备，用于输出预设温度的温控气流，以调节测试环境的温度；

导流管，用于导出所述温控气流；

热流管，与所述导流管连接，用于容纳被测产品；

电磁铁，环绕所述热流管设置，以提供所述抗磁测试需要的磁场；

控制台，用于调节所述被测产品在所述热流管中的位置。

优选的，所述热流管为透明材质或具有透明观察窗口，以使得测试环境的状态可见。

可选的，该抗磁测试装置还包括热流罩和热流罩支架，其中：

所述热流罩，一头连接所述导流管，另一头连接所述热流管，用于保持所述温控气流的温度；

所述热流罩支架设有凹槽，能够使所述热流罩和所述热流管气密性对接。

可选的，该抗磁测试装置还包括主机支架，用于固定所述电磁铁和所述控制台。

可选的，该抗磁测试装置还包括测试工位，置于所述控制台上，用于使所述被测试产品置于测试所需的测试环境处。

进一步的，所述控制台能够对所述被测产品进行以下调节操作中的一者或多者：旋转、升降、平移。

优选的，所述热流管末端设有排气口，通过该排气口能够排出所述温控气流。

进一步的，所述排气口还用于引出测试信号线。

优选的，所述预设温度的范围为-40~150℃。

可选的，所述温控设备还设有触屏控制显示器，用于设置所述温控气流的温度。