[发明专利]一种废旧电子产品用的外观缺陷检测设备和工艺在审

专利信息
申请号: 202311048190.X 申请日: 2023-08-21
公开(公告)号: CN116773538A 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 高金勇;唐百通;汤铁鑫 申请(专利权)人: 深圳市爱博绿环保科技有限公司
主分类号: G01N21/892 分类号: G01N21/892;G01N21/41;B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38
代理公司: 深圳市深联知识产权代理事务所(普通合伙) 44357 代理人: 张琪
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区坂田街*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种废旧电子产品用的外观缺陷检测设备和工艺,属于废旧电子产品外观检测技术领域,为解决废旧手机平板等具有玻璃面板类废旧电子产品在检查时则无法对玻璃面板进行较为细致的检查和不具备检测后直接剔除分类收集问题的问题。所述侧杠的上方设置有便于对检测后的废旧电子产品进行分类剔除的剔除机构,所述侧杠的上方设置有便于对废旧电子产品进行视觉检测的视觉检测机构,所述视觉检测机构的内部设置有便于对玻璃面板类废旧电子产品进行光学折射检测的折射检测机构。该废旧电子产品用的外观缺陷检测设备在视觉检测机构内部设置的折射控制机、光学发射头和光学接收头,可对含有与玻璃面板的废旧电子产品进行检查,提高的产品的回收利用率。
搜索关键词: 一种 废旧 电子产品 外观 缺陷 检测 设备 工艺
【主权项】:
暂无信息
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