[发明专利]芯片测试系统及方法在审
| 申请号： | 202311041334.9 | 申请日： | 2023-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN116754930A | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 罗伟;刘新华;黄钧 | 申请（专利权）人： | 北京紫光芯能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区西小口路*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试系统及方法，该系统包括：控制平台、矩阵开关单元、功能背板、核心板背板和部署有待测芯片的核心板；矩阵开关单元包括控制器、矩阵开关和电源管理模块；核心板与核心板背板相连接；控制平台与控制器、核心板通讯连接；控制器与功能背板通讯连接；核心板通过矩阵开关与功能背板相连接；控制平台，用于控制控制器对矩阵开关及电源管理模块进行配置；控制功能背板对待测芯片进行测试；控制器，用于对电源管理模块的供电模式和矩阵开关的矩阵连接状态进行配置；电源管理模块用于为核心板背板和功能背板供电。应用本发明提供的系统，可对芯片进行自动化测试，无需人工反复搭建测试场景进行测试操作，可提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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