[发明专利]芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202311034832.0 | 申请日： | 2023-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN116756049A | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 金鑫;周峰;张亚林 | 申请（专利权）人： | 上海燧原科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F30/367 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境；获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。本发明实施例的技术方案简化了芯片验证流程，提高了芯片验证效率，并可以提高芯片验证结果的准确性，同时，降低了芯片验证的成本，缩短了芯片上市的时间，可以有效提高芯片质量和用户满意度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 通用 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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