[发明专利]自动生成IC测试图形的方法、系统、设备和存储介质在审
| 申请号： | 202311006918.2 | 申请日： | 2023-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN116738931A | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 黄国勲;黄艳;唐明帅;于晓旭;赵克建 | 申请（专利权）人： | 宁波联方电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F111/04 |
| 代理公司： | 上海和华启核知识产权代理有限公司 31339 | 代理人： | 王仙子 |
| 地址： | 315800 浙江省宁波市北*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明揭示了一种自动生成IC测试图形的方法、系统、设备和存储介质，其方法包括：接收工艺规则，获取并处理工艺规则的规则信息，规则信息包括主规则信息和约束规则信息；依据规则信息，分解工艺规则，生成子规则；分析子规则，获取对应的基础图形，生成基础图形组；复制子规则，依据主规则信息，添加正确的指令信息至复制的子规则中；解析添加指令信息后的子规则，生成执行指令，依据绘图要求对执行指令进行分组，生成绘图指令集合；依据绘图指令集合修改或者组合基础图形组中的基础图形，绘制测试图形。该方法能够实时获取工艺规则的测试图形，降低时间成本，且减少人工干预，降低人力成本和人工误差，提升验证该工艺规则的图形的开发效率。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 生成 ic 测试 图形 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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