[发明专利]一种反熔丝FPGA高速测试电路在审
| 申请号： | 202311001211.2 | 申请日： | 2023-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN116718901A | 公开（公告）日： | 2023-09-08 |
| 发明（设计）人： | 王佐;尹自强 | 申请（专利权）人： | 成都市硅海武林科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 成都厚为专利代理事务所(普通合伙) 51255 | 代理人： | 夏柯双 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种反熔丝FPGA高速测试电路，涉及集成电路领域，包括测试采集模块和测试输出模块。所述测试采集模块分布于反熔丝FPGA片上的布线资源内，包括开漏输出NMOS管和开关MOS模块，可通过开关MOS模块对逻辑模块和/或IO模块的输出进行单个或批量的采集测试。所述测试输出模块包括交叉互耦的倒相PMOS管单元和下拉电阻单元，将测试采集模块输出的低电平“0”和高阻态转换成正常的高低逻辑电平。本发明可实现对芯片内部任意逻辑模块和/或IO模块输出的单个或批量测试，方便用户调试设计。并且用户调试完成后，可通过编程特定反熔丝，使得测试电路失效、内部节点不能被读取，保证了设计的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反熔丝 fpga 高速 测试 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都市硅海武林科技有限公司，未经成都市硅海武林科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202311001211.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：银行流水打标方法及装置
- 下一篇：一种用于电缆桥架带钢镀锌装置及其镀锌方法
