[发明专利]断层重建的质量评估方法及存储介质有效
| 申请号： | 202310967446.0 | 申请日： | 2023-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN116681841B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 张艳超;余毅;高策;吴杰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G06T17/00 | 分类号： | G06T17/00;G06T19/20;G06Q10/0639 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 陈陶 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及体积增材制造技术领域，具体为一种断层重建的质量评估方法及存储介质，包括以下步骤：提取断层重建模型的边缘区域；将所述边缘区域作为质量评估模型的输入得到边缘误差；基于所述边缘误差判断所述断层重建模型是否达到3D打印精度；若否，则优化迭代所述断层重建模型的边缘区域和打印模型的边缘区域的偏差，直至达到所述3D打印精度，是对重建目标边缘区域的质量评估方法，更为直观的表征断层重建精度。 | ||
| 搜索关键词： | 断层 重建 质量 评估 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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