[发明专利]一种热插拔测试方法、装置、存储介质及设备在审
申请号: | 202310953054.9 | 申请日: | 2023-07-31 |
公开(公告)号: | CN116955042A | 公开(公告)日: | 2023-10-27 |
发明(设计)人: | 常金恒 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 刘小峰;陈黎明 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供了一种热插拔测试方法、装置、存储介质及设备,方法包括:交互模块接收测试选择信息并传递至配置模块,测试选择信息包括HBA卡的待测槽位信息;配置模块登录并配置存储系统和主机,以使存储系统与主机执行业务操作;由监控分析模块获取待测槽位的HBA卡的状态,得到插拔前状态信息,并反馈至交互模块;若交互模块接收到插拔前状态信息,向执行模块发送测试选择信息,以使执行模块执行相应的插拔操作,并将操作执行结果反馈至交互模块,交互模块发送指令使监控分析模块获取待测槽位的HBA卡的状态,得到插拔后状态信息,并根据测试选择信息、插拔前状态信息以及插拔后状态信息得到测试结果。本发明提高了热插拔测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 热插拔 测试 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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