[发明专利]断言验证方法、断言验证平台、电子设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202310934159.X 申请日: 2023-07-27
公开(公告)号: CN116663462A 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 石侃;张子卿;翁伟杰;包云岗 申请(专利权)人: 北京开源芯片研究院
主分类号: G06F30/331 分类号: G06F30/331;G06F30/3312;G06F30/3323;G06F30/327
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 苏培华
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种断言验证方法、断言验证平台、电子设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域。其中的断言验证方法应用于断言验证平台,所述断言验证平台包括可编程逻辑芯片,所述可编程逻辑芯片中配置有被测设计、覆盖率监视器和硬件化断言测试集;所述方法包括:利用所述硬件化断言测试集对所述被测设计进行断言验证,并通过所述覆盖率监视器确定所述被测设计的断言覆盖率;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。在本发明实施例提供的断言验证平台中,不可综合的断言语句被转化为等效硬件化断言测试集,实现了用硬件对被测设计进行调试加速。
搜索关键词: 断言 验证 方法 平台 电子设备 可读 存储 介质
【主权项】:
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