[发明专利]一种恒流源电路及芯片老化测试方法在审
| 申请号： | 202310925829.1 | 申请日： | 2023-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN116931638A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张华;薛银飞;黄河;李家桐 | 申请（专利权）人： | 上海菲莱测试技术有限公司;无锡菲光科技有限公司 |
| 主分类号： | G05F1/56 | 分类号： | G05F1/56;G01R1/28;G01R1/30;G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京源点知识产权代理有限公司 32545 | 代理人： | 潘云峰 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开一种恒流源电路及芯片老化测试方法，用于提供芯片老化测试所需的恒流源，恒流源电路包括：第一运放单元；主控制单元，主控制单元的I1‑接口的I1+接口分别与第一运放单元的对应接口电连接；主控制单元包括：电源输出电路，电源输出电路与第一运放单元的反馈端口电连接；放大采集电路，与电源输出电路的采集电阻并联，且放大采集电路与第一运放单元电连接。芯片老化测试方法用前述的恒流源电路进行测试。本发明解决了现有的芯片老化测试用恒流源电路功能单一技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 恒流源 电路 芯片 老化 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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