[发明专利]一种存储测试设备及其测试方法在审
| 申请号： | 202310877336.5 | 申请日： | 2023-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN116610511A | 公开（公告）日： | 2023-08-18 |
| 发明（设计）人： | 赵建议;祝欣;王星;姜涛 | 申请（专利权）人： | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海汉之律师事务所 31378 | 代理人： | 吴向青 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经济技术*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，涉及存储测试技术领域，存储测试设备用于获取待测机的性能指标测试数据，存储测试设备包括：数据传输模块，通过接口与待测机电性连接；配置模块，配置模块的输出端电性连接于数据传输模块，配置模块包括配置信息，其中配置信息包括接口的硬件信息、自动化测试进程的预设循环次数和循环中止时间；以及码流下发模块，码流下发模块的输出端电性连接于数据传输模块，其中码流下发模块存储测试指令，在自动化测试进程中，测试指令通过接口发送至待测机。本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，能够通过串口高效且准确地测试安卓设备的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 测试 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
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