[发明专利]污点源识别方法、污点源识别装置、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202310799123.5 | 申请日： | 2023-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN116956285A | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 孙利民;刘圃卓;李志;刘明东;宋站威 | 申请（专利权）人： | 中国科学院信息工程研究所 |
| 主分类号： | G06F21/56 | 分类号： | G06F21/56;G06F18/22 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 常芳 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种污点源识别方法、污点源识别装置、电子设备及介质。该方法包括：对目标固件中的每个函数分别对应的行为特征向量和目标特征矩阵进行相似度计算，确定所述每个函数的相似度得分，所述每个函数分别对应的行为特征向量基于所述目标固件中的二进制程序确定，所述目标特征矩阵基于内存操作函数对应的行为特征向量构建；基于所述每个函数的相似度得分，确定作为污点源的目标函数，所述目标函数用于进行污点分析。本发明提供的污点源识别方法，可以对目标固件中的二进制程序进行自定义函数中的污点源确定，并进行污点分析，达到了有效发现二进制程序存在的安全缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 污点 识别 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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