[发明专利]提高测试仪同测芯片数的方法在审
| 申请号： | 202310798041.9 | 申请日： | 2023-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN116955031A | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 朱渊源 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种提高测试仪同测芯片数的方法，包括：提供测试仪，测试仪包括多个数字IO通道；提供若干待测的芯片，芯片包括一个信号IO管脚，对于每个芯片的信号IO管脚都分配两个数字IO通道，第一数字IO通道直接连接到信号IO管脚上，第二数字IO通道串联一个电阻连接到信号IO管脚上；利用第一数字IO通道做输出驱动和输入比较测试；利用第二数字IO通道通过不同的状态测试芯片的输入输出信号，输出信号包括电流负载能力。第二数字IO通道串联一个电阻连接到信号IO管脚，第二数字IO通道通过不同的状态起到负载电流的作用。在测试仪包含的通道中，不是所有通道都具备电流负载测试功能的工况下，提升芯片CP测试的同测能力。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 测试仪 芯片 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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