[发明专利]发射伺服系统耐久性加速验证试验方法和系统在审

专利信息
申请号: 202310755221.9 申请日: 2023-06-25
公开(公告)号: CN116908576A 公开(公告)日: 2023-10-20
发明(设计)人: 张绍伟;慈慧鹏;汪溢;王大为;王坤云;姜晓明;姚永超;王欣;龚琳舒;冯安安 申请(专利权)人: 上海机电工程研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M13/00
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201199 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种发射伺服系统耐久性加速验证试验方法和系统,包括以下步骤:1)明确发射伺服系统耐久性加速验证试验剖面;2)选取作用于发射伺服系统合适的应力量级;3)计算发射伺服系统耐久性加速系数;4)根据耐久性指标计算耐久性加速验证试验周期;5)明确发射伺服系统耐久性加速验证试验中测试的时机与检查项目;6)确定发射伺服系统耐久性加速验证试验判据。本发明综合考虑多元环境因素对产品性能退化的影响,更好地处理发射伺服系统耐久性验证问题,提高发射伺服系统耐久性加速验证试验验证效率与评估精度。
搜索关键词: 发射 伺服系统 耐久性 加速 验证 试验 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
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