[发明专利]一种继电保护缺陷诊断流程的缺陷推理方法及装置在审
| 申请号： | 202310711398.9 | 申请日： | 2023-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN116932590A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 郭鹏;杨国生;李仲青;张烈;梁英;赵鹏;闫周天;李穰;康逸群;李妍霏;药韬;张瀚方;王丽敏 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/2455 | 分类号： | G06F16/2455;G06F16/2458;G06F16/22;G06N5/04;G06Q50/06 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 姜丽辉 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种继电保护缺陷诊断流程的缺陷推理方法及装置。方法包括：根据继电保护设备的历史数据信息，构建缺陷排查点与缺陷部位间的关联关系表，结合排查点执行先后顺序，确定缺陷诊断逻辑流程图；取缺陷诊断逻辑流程图中的排查点的一个排序，从该排序的排查点1开始，将该排查点1的缺陷部位集合划分成正子集和负子集；判断正子集和负子集是否只有1个元素，在排查点1的正子集和负子集中的非单元素集合中，依次判断排序中新的排查点是否能够对各个子集进行细分，如果能够细分，则使用新的排查点对子集进一步细分；重复执行应用新的排查点对缺陷部位集合进行细分的过程，得到在该排查点排序下缺陷部位集合的推理结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 保护 缺陷 诊断 流程 推理 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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