[发明专利]动态响应调试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310710288.0 | 申请日： | 2023-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN116755540A | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 赵国玲 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/30 | 分类号： | G06F1/30;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供了一种动态响应调试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对待测频点进行扫频测试，根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，其中，调试方式包括分段调试，在确定调试方式为分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试。本发明实施例通过分段调优动态响应，能够分频段对需要调试的电压频段单独进行调优，优化DCDC电源芯片的调优能力，降低调节环路的难度及节省调试及验证的时间和人力，保证服务器的稳定运行。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 响应 调试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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