[发明专利]一种用于芯片晶圆测试台的固定机构有效
申请号: | 202310687708.8 | 申请日: | 2023-06-12 |
公开(公告)号: | CN116430087B | 公开(公告)日: | 2023-09-01 |
发明(设计)人: | 庄伟东 | 申请(专利权)人: | 南京银茂微电子制造有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/26 |
代理公司: | 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 | 代理人: | 崔建章 |
地址: | 211200 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及芯片晶圆测试技术领域,具体为一种用于芯片晶圆测试台的固定机构,包括凹折主板,凹折主板上方固定有补光灯具,凹折主板外部环设有静环板,补光灯具和静环板传动连接,凹折主板下方连接有内控件,内控件底端连接有支撑立柱,支撑立柱外部固定环设有多个副撑板,副撑板顶端固定在静环板上,凹折主板两端设置有定位件,两个定位件之间夹持有晶圆,本发明相较于传统技术固定机构,可以实现晶圆倾斜时的拍摄检测,且晶圆可以倾斜时转动,这样满足多角度的拍摄需求,此外为了保证晶圆在任何倾斜情况下均能得到充分的补光,补光灯具伴随晶圆同步运动。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 芯片 测试 固定 机构 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京银茂微电子制造有限公司,未经南京银茂微电子制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310687708.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。